OCT 膜層檢測儀是一種基于光學(xué)干涉與斷層掃描原理的高精度檢測設(shè)備，技術(shù)優(yōu)勢在多個領(lǐng)域發(fā)揮重要作用。其核心原理是利用低相干光源，通過邁克爾遜干涉儀使樣品反射光與參考光產(chǎn)生干涉，僅捕獲光程匹配的信號，結(jié)合逐層掃描實(shí)現(xiàn)微米級層析成像，分辨率可達(dá) 1-15μm，能清晰呈現(xiàn)膜層結(jié)構(gòu)與缺陷。

設(shè)備由光源系統(tǒng)、干涉儀、掃描系統(tǒng)、探測器和數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)組成。寬帶近紅外光源提供檢測基礎(chǔ)，干涉儀負(fù)責(zé)光的分離與干涉，掃描系統(tǒng)控制光束橫向移動，探測器采集信號，數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)則完成圖像重建與信息分析。

該檢測儀具備非接觸、高分辨率、實(shí)時、無損及自動化程度高等特點(diǎn)。無需接觸樣品即可檢測，避免損傷脆弱膜層；能精準(zhǔn)識別微小缺陷，實(shí)時反饋結(jié)果便于及時調(diào)整；可多次檢測同一膜層，且能與生產(chǎn)線集成實(shí)現(xiàn)自動化檢測，大幅提升效率與準(zhǔn)確性。

在電子電氣、顯示、光學(xué)、半導(dǎo)體和生物醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域應(yīng)用廣泛，可檢測電路板三防漆、手機(jī)屏幕薄膜、光學(xué)元件涂層、半導(dǎo)體晶圓缺陷及生物組織等，為產(chǎn)品質(zhì)量把控提供有力支持。