硅酸鹽巖石 是地殼中分布最為廣泛的巖石類型，主要由長石、云母、輝石、角閃石、橄欖石等硅酸鹽礦物構成，其顏色、硬度、密度等物理性質因礦物組成不同而存在差異，化學性質相對穩定但長期受風化或酸性物質作用會分解。這類巖石可通過巖漿結晶形成花崗巖、玄武巖等巖漿巖，也能經變質作用生成片麻巖、綠泥石片巖等變質巖，在建筑領域是水泥、玻璃、陶瓷的重要原料，在工業中高嶺土、滑石等可作特殊材料，部分還能形成翡翠、石榴石等珍貴寶石，是地球物質組成與資源利用的重要部分。‌‌‌‌

硅酸鹽巖石檢測

常用化學分析方法前處理復雜，分析速度慢，需要熟練的操作人員，在進行前處理過程中容易造成人為誤差，特別是高含量成分檢測準確性難以保證，而利用熔融制樣-X射線熒光光譜法定量分析操作簡便，測試速度快，分析準確性高，重復性較好。本方法適用于硅酸鹽巖石中二氧化硅、三氧化二鋁、全鐵（以TFe₂O₃表示）、氧化鎂、氧化鈣、氧化鈉、氧化鉀、二氧化鈦、氧化錳、五氧化二磷量等主、次成分量的測定。

鋼研納克 CNX-838順序式波長色散X熒光光譜儀 主要配置：

1) 端窗Rh靶、薄鈹窗（76 µm）、60 kV/4 kW的X射線源；

2) 可配LiF200、LiF220、Ge111、PET和XS55多層膜等分光晶體；

3) 流氣正比探測器（FPC，工作氣體為P10氣體）和NaI閃爍體探測器（SC），雙512道MCA；

4) θ-2θ雙獨立測角儀驅動系統（精度0.0002º）；

5) 48位自動進樣器；

6) 通過分光晶體和測角儀系統的搭配組合，測試元素范圍可涵蓋B(5)~U(92)。

實驗過程

采用經驗系數法和理論系數法兩種方法繪制工作曲線。采用決定系數（R²）和估計標準誤差（SEE）作為工作曲線的參數。各組分工作曲線的參數，見表1。

表1

工作曲線，見下圖

圖2 CaO的工作曲線

圖3 P₂O₅的工作曲線

圖4 AI₂O₃的工作曲線

圖5 SiO2的工作曲線

圖6 Na₂O的工作曲線

圖7 TiO2的工作曲線

圖8 MnO的工作曲線

圖9 Fe2O3的工作曲線

圖10 K₂O的工作曲線

圖11 MgO的工作曲線

儀器精密度：對GSR-17重復測定11次，測試儀器精密度，測試結果見表2。

表2

測試相對標準偏差為0.00-1.3%，儀器精密度良好。

方法精密度：選擇GSR-17按照本方法制備7個玻璃熔片，平行測定7次，進行方法精密度驗證，測試結果見表3。

表3

測試相對標準偏差為0.51-2.4%，方法精密度良好。

準確度：采用工作曲線測試未參與曲線繪制的GSR-17和GSR-16樣品，進行準確度分析，測試結果見表4。

表4

?結論

本次實驗采用鋼研納克CNX-838順序式波長色散X射線熒光光譜儀測定硅酸鹽巖石中10種主次組分含量，樣品和熔劑比為1:10，儀器精密度和方法精密度良好，測試結果準確度較好；采用該方法繪制的工作曲線對GSR-17和GSR-16樣品進行測試，測試結果準確。