泰勒霍普森粗糙度儀 DUO，在表面粗糙度測量領域。其采用接觸式測量原理，配備耐磨金剛石測針與精密機動驅動裝置。電機驅動測針在被測物體表面穩定移動，高感應度壓電傳感器捕捉測針垂直位移，將機械移動轉化為電子信號，經數字化處理后由微處理器運用標準化算法，即時計算出表面粗糙度參數。

DUO 功能強大，一鍵操作即可快速測量 Ra（輪廓算術平均偏差）、Rz（微觀不平度十點高度）、Rp（輪廓最大峰高）、Rv（輪廓最大谷深）、Rt（輪廓最大高度）等多個粗糙度參數，并清晰顯示在 2.4 英寸直觀 LCD 彩色屏幕上。

儀器使用充電電池供電，續航能力強，能在各類環境和物體表面實現快速、便捷且精確的現場測量。其還具備諸多實用設計：運用藍牙技術，實現驅動與顯示 / 控制裝置間快速可靠通信；可呈現詳細輪廓圖形，助力分辨測量區域問題；通過滑軌和鎖定裝置，能分為顯示 / 控制與驅動兩部分，便于在特殊位置測量。

在技術參數方面，分辨率達 0.01μm（0.4μin） ，量程上，Ra 最大 40μm（1600μin），Rz、Rv、Rp、Rt 最大 199μm（7800μin），重復性為示值的 2% + 噪聲，精度是讀數的 5% + 0.1μm（4μin）。此外，操作環境溫度為 0 - 40℃，濕度 0 - 80% 非冷凝，存儲環境溫度 0 - 50℃，濕度 0 - 80% 非冷凝 。

DUO 應用廣泛，在工業生產中，可用于研磨、車削等加工工藝的過程控制；在航空航天領域，能保障渦輪葉片等關鍵零部件質量；在印刷輥、地板、玻璃等產品生產中，也可有效把控表面質量。