手機版
化工儀器網手機版
化工儀器網小程序
官方微信
公眾號：chem17
掃碼關注視頻號
原位掃描電鏡（SEM）的應用原理主要是利用電子成像來觀察樣品的表面形貌。當一束極細的高能電子束在試樣上掃描時，與試樣相互作用產生各種物理信息，如二次電子、背散射電子、特征X射線和連續(xù)譜X射線、透射電子等。通過對這些信息的接受、放大和顯示成像，獲得測試試樣表面形貌的觀察。
SEM的分辨率高于光學顯微鏡的分辨率，因為電子的波長遠小于光的波長。此外，SEM還可以進行樣品表面的元素分析，如C、S、N等元素的分布情況。
在具體應用中，原位掃描電鏡可以用于材料科學、生物學、醫(yī)學等領域的研究和質量控制。例如，在材料科學領域，SEM可以觀察金屬、陶瓷、高分子等材料的表面形貌和微觀結構；在生物學領域，SEM可以觀察細胞和組織的表面形貌和結構；在醫(yī)學領域，SEM可以用于疾病診斷和藥物研發(fā)等。
原位掃描電鏡的應用原理是通過電子束與樣品相互作用產生各種物理信息，對這些信息進行接收、放大和顯示成像，從而獲得試樣表面形貌和結構的信息。
免責聲明
- 凡本網注明“來源：化工儀器網”的所有作品，均為浙江興旺寶明通網絡有限公司-化工儀器網合法擁有版權或有權使用的作品，未經本網授權不得轉載、摘編或利用其它方式使用上述作品。已經本網授權使用作品的，應在授權范圍內使用，并注明“來源：化工儀器網”。違反上述聲明者，本網將追究其相關法律責任。
- 本網轉載并注明自其他來源（非化工儀器網）的作品，目的在于傳遞更多信息，并不代表本網贊同其觀點和對其真實性負責，不承擔此類作品侵權行為的直接責任及連帶責任。其他媒體、網站或個人從本網轉載時，必須保留本網注明的作品第一來源，并自負版權等法律責任。
- 如涉及作品內容、版權等問題，請在作品發(fā)表之日起一周內與本網聯系，否則視為放棄相關權利。
采購中心