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徠卡偏光顯微鏡是一臺理想化的材料結晶學教學和地質科學專科院校巖像學教研用的偏光顯微鏡。可用于研究所謂透明與不透明各向異性材料的一種顯微鏡，觀察具有雙折射的物質。將普通光改變為偏振光進行鏡檢的方法，以鑒別某一物質是單折射（各向同行）或雙折射性（各向異性）。雙折射性是晶體的基本特性。徠卡偏光顯微鏡在觀察制片時,要注意以下幾點：
1、光軸與載物臺通光中心必須在一直線上，否則旋轉物臺時，被檢物體就偏離視場中心，甚至移到視場之外，而影響偏光顯微鏡鏡檢。
2、起偏鏡和檢偏鏡均標有振動方向的符號，當處于正交狀態時，習慣上通常使起偏鏡的振動方向與目鏡內十字線的橫線一致，而檢偏鏡的振動方向與十字線的給縱線一致。
3、制片不宜過薄，否則微弱的雙折射性就易消失。同時應先以新鮮狀態進行觀察，然后再對照進行觀察。
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