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空氣動力學粒徑:APS3321通過精密的飛行時間（TOF）技術可以實時測量粒子的空氣動力學粒徑，其粒徑測量范圍達到0.5～20µm。由于基于飛行時間的空氣動力學粒徑計數僅僅與粒子形狀相關，從而避免了折射系數和米散射的干擾，因此儀器對粒徑的測量性能優于同類的光學散射儀器。
產品簡介
詳細介紹
美國TSI空氣動力學粒徑譜儀3321
3321型空氣動力學粒徑譜儀（APS3321）是高性能、多用途的新一代粒子測量儀器，其所具有的*設計可以同時測量如下2個屬性：
空氣動力學粒徑:APS3321通過精密的飛行時間（TOF）技術可以實時測量粒子的空氣動力學粒徑，其粒徑測量范圍達到0.5～20μm。由于基于飛行時間的空氣動力學粒徑計數僅僅與粒子形狀相關，從而避免了折射系數和米散射的干擾，因此儀器對粒徑的測量性能優于同類的光學散射儀器。此外，飛行時間測量粒徑所具有的單調對應曲線確保了在整個粒徑測量范圍內的高分辯率。
光學散射強度：通過光學散射測量技術，APS3321的測量粒徑可以達到0.37～20μm。雖然光學散射強度并不總是顆粒物粒徑的可靠表征參數，但它仍然是人們感興趣的一項參數。APS3321可以分別提供同一粒子的空氣動力學粒徑和光學散射強度這兩項參數的數據，并單獨存儲。
檢測技術 | 使用單獨的高速處理器在加速氣流中檢測單顆粒的飛行時間 |
粒徑范圍 | 0.5～20μm(空氣動力直徑) |
空氣動力學直徑解析率 | 0.02μm(1μm)，0.03μm(10μm) |
分辨率 | 粒徑分辨率：32通道/10倍粒徑，52通道，非相關模式1024位原始飛行時間數據(4ns/位) |
檢測粒子種類 | 懸浮的顆粒物和不揮發性液體 |
zui大顆粒物檢測濃度 | 1000個/cm3在0.5μm時，重疊事件發生概率<5% |
zui小顆粒物檢測濃度 | 0.001個/cm3 |
濃度量程 | ±10％讀數值加上統計計數偏差 |
空氣動力學粒徑zui大速度 | >200,000個/s |
總采樣流量 | 5.0L/min |
鞘氣流量 | 4.0L/min |
樣氣流量 | 1.0L/min |
操作溫度 | 10～40℃ |
大氣壓力校正 | 在400到1030mbar內自動校正(在700到1030mbar內*校正) |
激光源 | 30mV，655nm二極管激光器 |
檢測器 | 雪崩式光電倍增管（APD） |
前顯示面板 | 320×240象素 |
工作溫度 | 10～40℃ |
工作濕度 | 10～90％ |
電源電壓 | 110～240VAC，50/60Hz，100W或24VDC |
通訊方式 | RS～232（9針）接口 |
輸出方式 | 數字I/O： |
外形尺寸 | 氣溶膠進樣口：外徑3/4英寸 |
重量 | 10kg |
美國TSI空氣動力學粒徑譜儀3321