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納米粒度及zeta電位儀有哪些特點(diǎn)
1.膜電極設(shè)計(jì)，避免產(chǎn)生熱效應(yīng)，能準(zhǔn)確測量顆粒電泳速度。
2.快速傅利葉變換算法，迅速處理檢測系統(tǒng)獲得的能譜，縮短分析時(shí)間。
3.納米粒度及zeta電位儀采用新的動態(tài)光散射技術(shù)，引入能普概念代替?zhèn)鹘y(tǒng)光子相關(guān)光譜法。
4.“Y”型光纖光路系統(tǒng)，通過藍(lán)寶石測量窗口，直接測量懸浮體系中的顆粒粒度分布，在加載電流的情況下，與膜電極對應(yīng)產(chǎn)生微電場，測量同一體系的Zeta電位，避免樣品交叉污染與濃度變化。
5.納米粒度及zeta電位儀可控參比方法（CRM），能精細(xì)分析多譜勒頻移產(chǎn)生的能譜，確保分析的靈敏度。
6.異相多譜勒頻移技術(shù)，較之傳統(tǒng)的方法，獲得光信號強(qiáng)度高出幾個(gè)數(shù)量級，提高分析結(jié)果的可靠性。
7.無需比色皿，毛細(xì)管電泳池或外加電極池，僅需點(diǎn)擊Zeta電位操作鍵，一分鐘內(nèi)即可得到分析結(jié)果。
8.超短的顆粒在懸浮液中的散射光程設(shè)計(jì)，減少了多重散射現(xiàn)象的干擾，保證高濃度溶液中納米顆粒測試的準(zhǔn)確性。
9.消除多種空間位阻對散射光信號的干擾，諸如光路中不同光學(xué)元器件間傳輸?shù)膿p失，樣品池位置不同帶來的誤差，比色皿器壁的折射與污染，分散介質(zhì)的影響，多重散射的衰減等，提高靈敏度。
2.快速傅利葉變換算法，迅速處理檢測系統(tǒng)獲得的能譜，縮短分析時(shí)間。
3.納米粒度及zeta電位儀采用新的動態(tài)光散射技術(shù)，引入能普概念代替?zhèn)鹘y(tǒng)光子相關(guān)光譜法。
4.“Y”型光纖光路系統(tǒng)，通過藍(lán)寶石測量窗口，直接測量懸浮體系中的顆粒粒度分布，在加載電流的情況下，與膜電極對應(yīng)產(chǎn)生微電場，測量同一體系的Zeta電位，避免樣品交叉污染與濃度變化。
5.納米粒度及zeta電位儀可控參比方法（CRM），能精細(xì)分析多譜勒頻移產(chǎn)生的能譜，確保分析的靈敏度。
6.異相多譜勒頻移技術(shù)，較之傳統(tǒng)的方法，獲得光信號強(qiáng)度高出幾個(gè)數(shù)量級，提高分析結(jié)果的可靠性。
7.無需比色皿，毛細(xì)管電泳池或外加電極池，僅需點(diǎn)擊Zeta電位操作鍵，一分鐘內(nèi)即可得到分析結(jié)果。
8.超短的顆粒在懸浮液中的散射光程設(shè)計(jì)，減少了多重散射現(xiàn)象的干擾，保證高濃度溶液中納米顆粒測試的準(zhǔn)確性。
9.消除多種空間位阻對散射光信號的干擾，諸如光路中不同光學(xué)元器件間傳輸?shù)膿p失，樣品池位置不同帶來的誤差，比色皿器壁的折射與污染，分散介質(zhì)的影響，多重散射的衰減等，提高靈敏度。