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ZetaPALS相位分析光散射原理（PALS）測ζ電位應(yīng)用案例9
閱讀：1095 發(fā)布時間：2013-11-25ZetaPALS相位分析光散射原理（PALS）測ζ電位應(yīng)用案例9
文獻名：納米TiO2顆粒在制冷工質(zhì)中的分散
作者： 畢勝山， 史 琳， 王 磊
（清華大學(xué)熱科學(xué)與動力工程教育部重點實驗室，熱能工程系，北京，100084）
摘要：納米TiO2顆粒在制備和應(yīng)用過程中極易團聚，解決其分散問題是納米TiO2顆粒在制冷系統(tǒng)中應(yīng)用的基礎(chǔ)和前提. 本工作利用目測沉降觀察、分光光度計吸收測量法和激光粒度分析法，實驗研究了納米TiO2顆粒在制冷工質(zhì)中的分散特性. 結(jié)果表明，納米TiO2顆粒在制冷劑中分散較穩(wěn)定，制冷劑介電常數(shù)和極性是主要的影響因素；Span-80可以作為納米TiO2顆粒在制冷劑中的分散劑；溫度對納米TiO2顆粒在制冷劑中的分散穩(wěn)定性影響明顯. 研究結(jié)果可為納米TiO2顆粒在制冷系統(tǒng)中的應(yīng)用研究提供基礎(chǔ)數(shù)據(jù).
關(guān)鍵詞：納米顆粒；制冷劑；顆粒粒度；表面活性劑；溫度