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北京來亨科學儀器有限公司
4008-010-685
首頁 >> 技術文章 >> 原子力顯微鏡AFM工作原理
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分析原理：將一個對微弱力極敏感的微懸臂一端固定，另一端有一微小的針尖，由于針尖原子與樣品表面原子間存在極微弱的作用力，通過在掃描時控制這種力的恒定，帶有針尖的微懸臂將在垂直于樣品的表面方向起伏運動。從而可以獲得樣品表面形貌的信息
譜圖的表示方法：微懸臂對應于掃描各點的位置變化
提供的信息：樣品表面形貌的信息
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