【Hitachi】日立新型場發射掃描電子顯微鏡SU8200系列（SU8220，SU8230，SU8240）

儀器簡介：

SU8200 系列冷場掃描是日立高新經過多年潛心鉆研，巨額投入而研發出來的新一代革新性冷場電鏡，其不僅*秉承以往冷場發射掃描電鏡全部優點，還大幅提高了探針電流，并極大增強了電流的穩定性。這些優點使得在低加速電壓下，可長時間連續實現高分辨觀察和分析功能。此系列掃描電鏡在*秉承以往冷場發射掃描電鏡全部優點的同時，將探針電流進行了大幅提高，電流穩定性得到了極大增強，同時避免了燈絲Flash 后的采圖等待時間，可以說其彌補了以往冷場電鏡的所有弱勢，成為一款真正的超高分辨分析型冷場掃描電鏡，上演了一部現實版的*歸來!

日立高新場發射掃描電子顯微鏡SU8200系列主要特點：

　　日立高新新研發的冷場電子槍

1.利用電子槍轟擊后的高亮度穩定期，束流更大更穩定，高分辨觀察和分析兼顧

2.大幅提高分辨率(1.1nm/1kV、0.8nm/15kV)

3.減輕污染的高真空樣品倉

4.通過頂部過濾器(選配項)實現多種材料對比度可視化

日立高新場發射掃描電子顯微鏡SU8200系列技術參數：

應用領域：

1、  納米材料；

2、  半導體器件；

3、  高分子材料；

4、  生物醫學；

5、  新能源；

樣品:介孔二氧化硅納米球；著陸電壓：500 V

樣品：高嶺土；著陸電壓：50V

樣品：Au/Cu2O　核-殼納米立方體；EDX圖譜條件：5 kV, 0.7 nA, 15 min, 150,000×

                   (Top filter off)                                          (Top filter on)

樣品：鋰離子電池正極材料（同一觀察視野）；觀察條件：1KV