瑞士梅特勒METTLER 電子天平XPR205/AC的特點(diǎn)

性能，輕松合規(guī).XPR分析天平、220 g量程、0.01 mg可讀性、7''電容彩色觸摸屏、用戶管理、靜電檢測(cè)、自動(dòng)內(nèi)部校正且配有LabX

一次即準(zhǔn)的結(jié)果

集成的StatusLight™、LevelControl和GWP Approved協(xié)同作用，確保各項(xiàng)條件處于更佳狀態(tài)，獲得正確的稱量結(jié)果。

StaticDetect 靜電檢測(cè)

由于具備StaticDetect專業(yè)功能，XPR微量天平和分析天平可檢測(cè)樣品和容器的靜電荷。

始終可符合審計(jì)

將XPR分析天平連接至LabX軟件，為合規(guī)性和數(shù)據(jù)完整性提供全面支持。

核心技術(shù)參數(shù)與性能

1. 雙量程超微量精度

量程與可讀性：支持220g/0.01mg（標(biāo)準(zhǔn)量程）和81g/0.1mg（微量模式）雙量程切換，最小稱量值（USP 標(biāo)準(zhǔn)）低至14mg，比傳統(tǒng)天平節(jié)省 30% 樣品用量。

傳感器技術(shù)：采用MonoBloc 單模塊傳感器（無焊點(diǎn)整體式設(shè)計(jì)），抗沖擊能力提升 3 倍，過載保護(hù)達(dá)量程的 5 倍，配合SmartGrid 動(dòng)態(tài)溫度補(bǔ)償，可在 ±15℃/ 小時(shí)的溫變環(huán)境下保持稱量≤0.02% FS。

2. 自動(dòng)化加樣系統(tǒng)

粉末 / 液體雙模式：可選升級(jí)Q3 自動(dòng)加樣模塊，支持自由流動(dòng)粉末（如 API 原料）和低粘度液體（如電解液）的自動(dòng)分配，最小加樣量低至0.7mg（1% 允差），≤0.5%。

智能路徑規(guī)劃：內(nèi)置3D 動(dòng)態(tài)算法，根據(jù)樣品特性（如顆粒度、流動(dòng)性）自動(dòng)優(yōu)化加樣軌跡，避免結(jié)塊或飛濺。例如，在鋰電池極片涂布測(cè)試中，可實(shí)現(xiàn) 0.1mg 級(jí)漿料分配。

3. 靜電消除與抗干擾設(shè)計(jì)

StaticDetect + 離子發(fā)生器：集成方波信號(hào)檢測(cè)技術(shù)，實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)靜電荷，當(dāng)干擾超過閾值時(shí)自動(dòng)報(bào)警，并通過內(nèi)置離子發(fā)生器（物料號(hào) 30460823）在 3 秒內(nèi)消除電荷，確保微量稱量的準(zhǔn)確性。

雙重屏蔽系統(tǒng)：采用內(nèi)層鋁箔 + 外層鍍錫銅編織網(wǎng)（覆蓋率≥90%），配合金屬外殼屏蔽，整體屏蔽效能達(dá)80dB 以上，可在電機(jī)驅(qū)動(dòng)、焊接設(shè)備等強(qiáng)電磁環(huán)境下穩(wěn)定工作。