美國IET Labs(繼承GenRad技術)的1693型阻抗分析儀是用于精密阻抗測量的專業(yè)儀器,其核心基于自動平衡電橋原理,結合現(xiàn)代數(shù)字信號處理技術,可實現(xiàn)從毫歐到兆歐級的寬范圍測量。
四線開爾文連接:
通過分離激勵(Force)和檢測(Sense)線纜,消除導線電阻影響(低可測1mΩ)
矢量電壓檢測:
同時測量被測件(DUT)兩端的電壓幅值(V)與相位(θ),計算復數(shù)阻抗(Z=R+jX)
動態(tài)平衡反饋:
通過PID算法實時調節(jié)參考臂阻抗,使電橋始終處于零位平衡狀態(tài)(平衡速度<10ms)
高穩(wěn)定信號源:
頻率范圍:20Hz-1MHz(分辨率0.001Hz)
純正弦波失真度<0.1%(采用DDS直接數(shù)字合成技術)
精密鑒相器:
24位Σ-Δ ADC實現(xiàn)0.001°相位分辨率
正交解調技術分離實部(R)與虛部(X)
自適應量程切換:
采用繼電器矩陣自動選擇最佳測量量程(切換時間<5ms)
開路/短路校準:
存儲分布參數(shù)(雜散電容/電感)的修正系數(shù)
溫度漂移抑制:
恒溫晶振(±0.5ppm/℃)配合實時溫度補償算法
數(shù)字濾波降噪:
可編程FIR濾波器,在1kHz時噪聲底限<1μV RMS
模式 | 參數(shù) | 精度 | 適用場景 |
---|---|---|---|
串聯(lián)等效 | Rs, Ls | ±0.05% | 電感/小電容測量 |
并聯(lián)等效 | Rp, Cp | ±0.1% | 高阻材料/大電容測量 |
直流偏置 | Z(f)+DC(0-40V) | ±0.5% | 電解電容/變阻器測試 |
掃描測試 | 多點頻率掃描(100點) | 相位誤差小于0.01° | 濾波器特性分析 |
多參數(shù)同步顯示:
同時呈現(xiàn)|Z|、θ、R、X、C/L、Q/D等12種參數(shù)
極限值報警:
可設置參數(shù)容差帶(自動標記超差數(shù)據(jù))
GPIB/LAN接口:
支持SCPI指令遠程控制(兼容LabVIEW)
半導體:晶圓探針阻抗圖譜分析
材料科學:介電常數(shù)/損耗角測量
航空航天:線纜特性阻抗驗證(符合MIL-STD-202)
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