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玉崎科學儀器（深圳）有限公司
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表面粗糙度測量儀：精確測評，助力品質提升
一、產品原理
表面粗糙度測量儀是一種用于測量物體表面粗糙度的精密儀器，其工作原理基于觸針位移法和光干涉法。
觸針位移法
觸針位移法是較為常見的測量原理。測量時，觸針輕觸被測表面，儀器驅動觸針沿被測表面勻速滑行。表面微觀起伏使觸針產生位移，此位移由傳感器轉換為電信號，經放大、濾波等處理后，依據設定的評定參數（如 Ra、Rz 等），由內置處理器計算并顯示表面粗糙度數值。
光干涉法
光干涉法借助光學原理測量表面粗糙度。平行光束照射被測表面，光線反射后進入干涉儀，形成干涉條紋。表面粗糙度影響反射光相位，改變干涉條紋分布。儀器通過分析干涉條紋變化，利用光干涉公式計算表面粗糙度參數。此法適用于超光滑表面測量，精度高、非接觸式測量避免對樣品損傷。
二、技術參數
| 參數類別 | 參數名稱 | 參數值 |
|---|---|---|
| 測量范圍 | Ra | 0.005 - 16.0μm |
| Rq | 0.006 - 18.0μm | |
| Rz | 0.02 - 160.0μm | |
| Rt | 0.05 - 180.0μm | |
| 測量精度 | Ra | ±（5% + 0.02μm） |
| Rq | ±（5% + 0.02μm） | |
| Rz | ±（8% + 0.04μm） | |
| Rt | ±（8% + 0.04μm） | |
| 測量力 | 探測力 | 75 ± 20mN（遵循 ISO3274 標準）<br>75 ± 15mN（遵循 JISB0601 標準） |
| 探針參數 | 提升力 | >2N |
| 測針角度 | 90°（菱形） | |
| 測針半徑 | 5μm（標準）<br>2.5μm（選配） | |
| 橫向行程 | 0 - 25.00mm | |
| 測量速度 | 0.25、0.5mm/s（選配） | |
| 濾波器 | 符合 ISO1156、ISO4287 標準的 RC、PC、Gaussian 和 2CR 共 40 種濾波器 | |
| 環境要求 | 環境溫度 | 0 - 40℃ |
| 相對濕度 | ≤80% RH | |
| 電源要求 | 電源電壓 | 100 - 240V ±10%，48 - 62Hz |
| 外形尺寸 | 主機尺寸 | 170×110×60mm（不含支柱） |
| 探頭尺寸 | 40×40×115mm | |
| 主機重量 | 0.8kg（不含支柱） |
三、產品特點
- 高精度測量：采用高精度傳感器和先進的信號處理技術，確保測量結果精確可靠，重復性好。
- 寬測量范圍：支持多種粗糙度參數測量，包括 Ra、Rq、Rz 和 Rt 等，滿足不同行業和應用場景的需求。
- 便攜式設計：體積小、重量輕，便于攜帶和現場使用，特別適用于生產現場和野外測量。
- 直觀的操作界面：配備大尺寸液晶顯示屏，顯示清晰，操作簡便，支持多點觸控和手勢操作。
- 強大的數據處理功能：支持實時數據顯示、存儲和導出，可連接計算機進行數據分析和報告生成，滿足質量控制和實驗室研究的需求。
- 符合國際標準：設計和性能符合 ISO、DIN 和 JIS 等國際標準，確保測量結果的可靠性和可追溯性。
四、應用領域
表面粗糙度測量儀廣泛應用于機械加工、汽車制造、航空航天、電子工業、模具制造和計量檢測等領域，能夠快速、準確地測量各種金屬和非金屬表面的粗糙度，為質量控制、工藝優化和產品開發提供有力支持。
五、產品特性
- 多參數測量：支持多種粗糙度參數測量，滿足不同行業和應用場景的需求。
- 快速測量：優化的測量流程，能夠在短時間內完成測量任務，提高工作效率。
- 高重復性：采用先進的測量技術和精密的機械結構，確保測量結果具有良好的重復性。
- 數據管理功能：支持數據存儲、導出和打印功能，方便用戶進行數據管理和分析。
- 多種測量模式：支持單點測量、連續測量和自動測量等多種模式，滿足不同用戶的測量需求。
- 耐用性：采用高品質材料和零部件制造，確保設備的長期穩定運行。
表面粗糙度測量儀以其高精度、便攜性和強大的數據處理功能，成為表面質量檢測的重要工具，廣泛應用于工業生產和科研領域。隨著技術的不斷發展，表面粗糙度測量儀將繼續朝著更高的精度、更強的穩定性和更智能化的方向發展，為各行業的質量控制和工藝優化提供更有力的支持。
