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貨物所在地：遼寧大連市
更新時間：2025-02-05 21:00:07
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超快熒光光譜系統(tǒng)-UF100主要技術指標
檢測方法 條紋相機 熒光上轉換 | 克爾門 | ||
時間分辨率 | ≤3.5 ps | ≤450 fs | ≤1 ps |
時間窗口 | 100 μs | 8 ns | 8 ns |
光譜探測范圍 | 250-850 nm | 360-900 nm | 400-800 nm |
探測器 | 條紋相機 | 高靈敏PMT 線陣制冷CCD | |
采譜方式 | 寬譜采集 | 動力學掃譜 寬譜采集 | |
軟件 | 數(shù)據(jù)采集/分析軟件 | ||
可拓展模塊
微區(qū)檢測模塊 | 空間分辨率≤500nm \ | \ |
超快熒光光譜系統(tǒng)-UF100應用實例
·條紋相機檢測
實驗條件
樣品名稱 | CVD單層WS2 | 激發(fā)光波長 | 515 nm |
大連創(chuàng)銳光譜科技有限公司基于自主創(chuàng)新的時間分辨光譜技術，致力于推動光譜技術在科研和工業(yè)領域的深入應用。在科研儀器領域，創(chuàng)銳光譜由一線專家?guī)ш牐悄壳皣鴥葮O少具備瞬態(tài)光譜獨立研發(fā)-生產(chǎn)-應用完整能力體系的團隊。創(chuàng)銳光譜以時間分辨光譜核心技術，超快瞬態(tài)吸收光譜系統(tǒng)為核心產(chǎn)品，打破進口壟斷格局。主要產(chǎn)品包括瞬態(tài)吸收光譜系統(tǒng)、共聚焦熒光成像系統(tǒng)、DPSS納秒激光器及高速探測器。在工業(yè)半導體檢測領域，公司以光譜技術創(chuàng)新為核心立足點，已迅速完成碳化硅襯底、外延、氮化鎵、鈣鈦礦電池等多領域布局。
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