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當前位置：深圳秋山工業設備有限公司>>外觀分析設備>>測試儀>> DUORES日本napson手持式方塊電阻測量儀無損探頭
| 產地類別 | 進口 | 類型 | 數字式電阻測試儀 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 環保,能源,電子/電池,電氣,綜合 |
日本napson手持式方塊電阻測量儀無損探頭 DUORES 特點介紹
手持式方塊電阻測量儀，兼容 4 探頭法和無損（渦流法）探頭
手持式薄層電阻測量裝置，易于攜帶和測量，
可根據測量對象更換兩種類型的探頭（無損型和接觸型）。
可與兩種類型探頭（無損型和接觸型）互換使用的手持式方塊電阻測量裝置。
只需放置/應用探頭即可自動測量
電池連續工作時間：24小時（*使用電池時）
顯示數據數：最多100條（*從最新數據開始顯示）
保存數據數：最多50,000個（*專用軟件顯示）
測量數據傳輸功能：USB-Mini
顯示：3種顯示單位（Ω/□、S/□、n/m[金屬膜厚度換算]）、4位浮點數（0.000～9999）
日本napson手持式方塊電阻測量儀無損探頭 DUORES 規格參數
測量目標
薄膜、玻璃上的薄膜等
原則上任何樣品只要在測量范圍內都可以測量。
薄膜材料（ITO、TCO等）
低輻射玻璃
碳納米管、石墨烯材料
金屬材料（納米線、網格、網格）
其他的
無論尺寸或厚度如何，均可進行測量
（*每個探頭的測量點尺寸或更大）
<測量點>
無損探頭（渦流式）：φ25mm
接觸探頭（4探頭型）：9mm（針距3mm）
手持式方塊電阻測量儀，兼容 4 探頭法和無損（渦流法）探頭
手持式薄層電阻測量裝置，易于攜帶和測量，
可根據測量對象更換兩種類型的探頭（無損型和接觸型）。
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