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調(diào)制器是一種改變?cè)茧娦盘?hào)的幅度、頻率、相位等以使其更容易傳輸?shù)脑O(shè)備。例如，當(dāng)在兩個(gè)遠(yuǎn)距離點(diǎn)之間進(jìn)行無線通信時(shí)，很難將要發(fā)送的數(shù)據(jù)原樣作為信號(hào)進(jìn)行傳輸，因此需要使用調(diào)制器來調(diào)制信號(hào)。具體地，通過將待傳輸?shù)臄?shù)據(jù)置于射頻正弦波上來傳輸信號(hào)。調(diào)制方法有兩種：模擬調(diào)制和數(shù)字調(diào)制。區(qū)別在于所處理的信號(hào)是模擬信號(hào)還是數(shù)字信號(hào)，但基本原理是相同的。調(diào)制器的使用調(diào)制器是用于發(fā)送和接收電視和無線電廣播的設(shè)備。頻率根據(jù)信息類型（例如音頻或視頻）而變化，但有時(shí)頻率太低而無法作為信號(hào)傳輸。因此，電視和無線電廣播中使用調(diào)
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FIB-SEM（聚焦離子束掃描電子顯微鏡）是一種高分辨率三維成像和樣品處理技術(shù)。FIB代表聚焦離子束。使用高能離子束刮擦樣品表面，進(jìn)行詳細(xì)處理和觀察。離子束可以以非常小的光斑尺寸聚焦在樣品上，從而允許亞微米或納米級(jí)的處理和觀察。SEM代表掃描電子顯微鏡。采用高能電子束掃描樣品表面，以高分辨率觀察其表面形狀和結(jié)構(gòu)。SEM能夠生成詳細(xì)的三維圖像，與FIB結(jié)合時(shí)，可以描繪樣品的內(nèi)部結(jié)構(gòu)。FIB-SEM的應(yīng)用FIB-SEM由于其高分辨率和三維成像能力而被應(yīng)用于各種科學(xué)和工程領(lǐng)域。以下是如何使用FIB-S
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紅外熱成像設(shè)備是一種檢測(cè)被測(cè)物體發(fā)射的紅外輻射能并顯示物體表面溫度分布圖像的設(shè)備。它利用了紅外線的特性，物體溫度越高，發(fā)出的紅外線量就越多。紅外熱成像裝置具有以下特點(diǎn)：無需接觸物體即可遠(yuǎn)距離測(cè)量溫度測(cè)量大范圍內(nèi)的溫度分布，而不是物體上單點(diǎn)的溫度實(shí)時(shí)測(cè)量溫度紅外熱成像設(shè)備的應(yīng)用紅外熱成像設(shè)備可以實(shí)時(shí)可視化物體的表面溫度，因此被應(yīng)用于各個(gè)工業(yè)領(lǐng)域進(jìn)行溫度控制、監(jiān)測(cè)和檢查。在建筑領(lǐng)域，可以利用表面溫度的差異來檢測(cè)建筑物外墻瓷磚的隱形剝落。此外，太陽能電池板有時(shí)也被用來檢查太陽能電池板，因?yàn)楫?dāng)出現(xiàn)異常時(shí)
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能源監(jiān)視器是一種通過將能源狀態(tài)反映在監(jiān)視器屏幕上來可視化能源狀態(tài)的產(chǎn)品。主要是指測(cè)量家庭、建筑物等用電量的設(shè)備。廣泛應(yīng)用于從工業(yè)到家用產(chǎn)品。典型的使用示例包括檢查混合動(dòng)力汽車的電機(jī)和發(fā)動(dòng)機(jī)使用狀態(tài)以及顯示具有太陽能發(fā)電系統(tǒng)的設(shè)施的電力使用狀態(tài)。能源監(jiān)測(cè)儀的使用方法通過使用能源監(jiān)視器，可以了解基礎(chǔ)設(shè)施能源的使用量，例如電力和天然氣。這使得可以了解一天中不同時(shí)間的使用情況和設(shè)備的使用情況，這對(duì)于節(jié)能非常有用。通過限制使用消耗大量電力的設(shè)備并引入節(jié)能設(shè)備，有助于降低運(yùn)行成本。此外，公司可能會(huì)嘗試減少二
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手持式示波器是一種適合戶外使用的小型示波器，可以使用電池供電。也稱為手鏡。示波器是一種將電子電路中信號(hào)電壓的變化顯示為時(shí)間序列波形數(shù)據(jù)的測(cè)量儀器。通過讀取波形和幅度的變化來測(cè)量信號(hào)的變化。由于它最初是用于實(shí)驗(yàn)室和工廠生產(chǎn)線，因此需要高精度、高靈敏度、高速數(shù)據(jù)處理等高性能，導(dǎo)致外殼體積大、功耗高。另一方面，您還需要一臺(tái)示波器，可用于在安裝現(xiàn)場(chǎng)調(diào)整和維修電子設(shè)備。在這種情況下，設(shè)備必須體積小、重量輕且由電池供電，這樣即使性能稍差，也不需要商用電源。手持式示波器可以滿足這一要求。需要注意的是，便攜式示
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透射率計(jì)是一種測(cè)量特定波長的光透過玻璃、薄膜和濾色片等光學(xué)元件的透射率的設(shè)備。光學(xué)薄膜和彩色濾光片是具有透射、吸收和散射特定波長光作用的光學(xué)元件。還有一些光學(xué)元件，例如半導(dǎo)體光掩模，可以通過在玻璃上設(shè)置金屬膜來阻擋來自曝光裝置的光源的光，從而形成任意圖案。透射率測(cè)量儀器廣泛應(yīng)用于工業(yè)領(lǐng)域，以確定這些光學(xué)元件是否具有性能和質(zhì)量。透光率測(cè)量儀的使用方法透射率測(cè)量儀器對(duì)于通過特定波長的光起作用的光學(xué)元件、通過阻擋特定波長的光起作用的光學(xué)元件以及在整個(gè)可見光范圍內(nèi)的光的透過率來說是重要的，用于測(cè)量材料的
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干涉儀是一種通過測(cè)量光照射到物體時(shí)發(fā)生的干涉現(xiàn)象來測(cè)量物體的表面形狀、折射率和尺寸的裝置。干涉現(xiàn)象是多個(gè)波疊加并相互增強(qiáng)或抵消時(shí)產(chǎn)生新的波形。當(dāng)波來自同一源或具有相同或相似的頻率時(shí)，這一點(diǎn)最為明顯。干涉儀有不同類型，例如邁克爾遜干涉儀、馬赫-曾德爾干涉儀和斐索干涉儀。干涉儀用途干涉儀的主要用途是對(duì)玻璃、金屬、陶瓷等平板等物體表面進(jìn)行非接觸式觀察。例如，玻璃產(chǎn)品包括智能手機(jī)蓋板玻璃、液晶玻璃、分色光學(xué)系統(tǒng)中使用的棱鏡和半導(dǎo)體掩模基板，金屬產(chǎn)品包括模具和鋁盤。此外，還可以測(cè)量電子設(shè)備用半導(dǎo)體器件中使
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曲線追蹤器是一種在顯示器上顯示當(dāng)電壓施加到半導(dǎo)體器件時(shí)電壓和電流之間關(guān)系的設(shè)備。它被稱為曲線跟蹤器，因?yàn)樗欕妷?電流特性的圖形（曲線）并將其顯示在顯示屏上。在半導(dǎo)體器件中，施加的電壓和流動(dòng)的電流之間的關(guān)系是非線性的，并且不像電阻器那樣成正比。因此，測(cè)量半導(dǎo)體和電子設(shè)備的電壓與電流特性需要改變電壓、測(cè)量電流值并將結(jié)果繪制在紙上等步驟。另一方面，曲線跟蹤器允許您直接在顯示屏上查看電壓-電流特性。曲線追蹤器的應(yīng)用曲線追蹤儀用于測(cè)量半導(dǎo)體器件開發(fā)過程中的特性、檢查制造部門的器件以及驗(yàn)證使用半導(dǎo)體的電
