蔡司X射線顯微鏡 Xradia 515 Versa
憑借其突破性技術和高分辨率探測器，將 3D X 射線顯微鏡 ( XRM ) 的性能提升至新的高度，為各種尺寸的樣品提供亞微米級成像解決方案。保持先進的大樣品高分辨率技術優勢的同時，該系統可實現高達500 nm空間分辨率。該產品通過使用更高分辨率的光學元件，實現分辨率的改善和突破。與此同時，該產品還加入了更多的智能的元素，并且具有更廣闊的拓展能力。兼容ART3.0高級重構工具箱，利用AI技術提高成像效率或改善成像質量。
此外，Xradia 515 Versa系統還可進行擴展和升級，包括原位接口、4D原位試驗平臺、迭代重構、自動進樣裝置、平板探測器等多個拓展模塊。結合蔡司Xradia平臺的靈活性和穩定性，該產品多功能、多應用領域特點將為您的研究工作快速的提供分析成果。
[產品特點]
三維無損成像
500 nm真實空間分辨率
大工作距離下高分辨率，可實現不同類型、尺寸和類型 樣品多尺度成像
吸收、相位襯度成像模式
智能防撞系統，讓您的設置更簡單、更智能
4D 原位成像能力
可升級、拓展和可靠性
[應用領域]
材料科學，如金屬、陶瓷、高分子、混凝土等三維無損分析
生命科學，如微觀結構三維成像
地球科學，如地質、油氣、礦產、古生物等三維成像
電子和半導體行業，如形貌測量及失效分析
原位力學、變溫試驗
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