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核心優(yōu)勢
長久以來，X射線吸收精細結構譜(XAFS)只能在各個同步輻射光源上測試。由于光源機時有限，無法滿足眾多科研工作者的測試需求。而近些年，XAFS數(shù)據(jù)已成為了頂級期刊的“標配"，致使越來越多課題組需要XAFS測試。秉持著讓XAFS走進每個實驗室的理念，中國科學院高能物理研究所和中國科學技術大學聯(lián)合推出了全新的X射線吸收精細結構譜儀(RapidXAFS)。
硬X射線臺式吸收精細結構譜儀（RapidXAFS）產品優(yōu)勢：
多功能: | 提供科研級高質量XAFS圖譜 |
高性能: | 1小時內完成1%含量樣品測試 |
能量范圍: | 4.5-15 keV，可擴展至20 keV |
高光通量: | >2,000,000 photons/sec@7~9 KeV |
測試元素: | 在實現(xiàn)3d,5d，稀土元素過渡金屬 XAFS 測試 |
簡單易用: | 只需半天培訓即可上機操作 |
自主可控: | 90%部件自主可控，無政策風險 |
低維護成本: | 無需專人維護、操作、管理等 |
RapidXAFS具有如下特點:
最高光通量產品
光子通量高于1000000光子/秒/eV-2000000光子/秒/eV，采譜效率數(shù)倍于其他產品；獲得和同步輻射一樣的數(shù)據(jù)質量
優(yōu)異的穩(wěn)定性
光源單色光強度穩(wěn)定性優(yōu)于0.1%，重復采集能量漂移<50 meV
1%探測極限
高光通量、優(yōu)異的光路優(yōu)化和較好的光源穩(wěn)定性確保所測元素含量>1%時依舊獲得高質量EXAFS數(shù)據(jù)
儀器原理
X射線吸收精細結構(X-ray absorption fine structure，XAFS)，是一種研究材料局域原子或電子結構的有力工具，廣泛應用于催化、能源、納米等熱門領域。
主要有以下優(yōu)點:
1.不依賴于長程有序結構，可用于非晶態(tài)材料的研究;
2.不受其它元素干擾，可對同一材料中不同元素分別研究;
3.對樣品無破壞，在大氣環(huán)境下測試，可進行原位測試;
4.不受樣品狀態(tài)影響，可測量固體(晶體、粉末)，液體(溶液、熔融態(tài))和氣體等;
5.能獲得配位原子種類、配位數(shù)及原子間距等結構參數(shù)，原子間距精確度可達0.01A。
實驗室單色儀XES測試幾何結構 |
實驗室單色儀XAFS測試幾何結構 |
Mn數(shù)據(jù)，Mn K-edge XAFS數(shù)據(jù)，數(shù)據(jù)與同步輻射光源一致
Fe樣品Kβ發(fā)射譜數(shù)據(jù)：core to core XES 和 valence to core XES
XAFS譜主要包括兩部分:X射線吸收近邊結構(XANES)和擴展X射線吸收精細結構(EXAFS)。EXAFS的能量范圍大概在吸收邊后50 eV到1000 eV，來源于X射線激發(fā)出來的內層光電子在周圍原子與吸收原子之間的單電子單次散射效應的結果。XANES包含了吸收邊前約10 eV至吸收邊后約50 eV的范圍，其主要來源于X射線激發(fā)出的內殼層光電子在周圍原子與吸收原子之間的單電子多重散射效應。
測試數(shù)據(jù)
Foil EXAFS數(shù)據(jù)
低濃度實際樣品數(shù)據(jù)(0.5%)
可測元素：綠色部分可測K邊，黃色部分可測L邊
應用領域
硬X射線臺式吸收精細結構譜儀（RapidXAFS）應用：
工業(yè)催化
儲能材料
納米材料
環(huán)境毒理
也質分析
重元素分析
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