探針掃描高速原子力顯微鏡 PS-NEX
鏡面傾斜法
體積小、重量輕的 AFM 頭
快速穩定的
反饋控制
超小型懸臂梁，具有高諧振頻率和低彈簧常數
集成到光學顯微鏡中
準確識別測量區域
顯著緩解樣本量限制
高速原子力顯微鏡 (AFM*) 是一種可以在空氣或溶液中以“視頻"形式可視化納米級樣品的顯微鏡。
傳統的 AFM 有一個主要缺點：它只能拍攝靜態圖像。
我們的高速AFM NanoExplorer**（NEX）-Ando型號-，克服了傳統AFM的“掃描速度慢"，實現了實時視頻測量。
由于可以在短時間內獲取圖像，因此它可以抵抗樣品波動和振動，并且不需要牢固地固定在基板上。
可以在不影響生物分子等樣品的反應性的情況下進行測量。
探針掃描型高速AFM“PS-NEX"保留了我們之前產品（樣品掃描型高速AFM“ SS-NEX "）的功能，并融入了許多功能。
它還可以集成到您現有的光學顯微鏡中。
如果使用可選的熒光顯微鏡，您可以同時獲取高速 AFM 視頻和熒光成像圖像。
2. 緊湊、輕量的AFM頭
輕巧緊湊的尺寸設計使樣品設置變得容易
體積比已減少至傳統產品的約1/10。
3.快速穩定的反饋控制
除了寬帶模擬反饋機制外，還采用了的動態PID。
即使在高速掃描下也能獲取忠實于樣品表面的圖像
用于高速 AFM 的超小型懸臂梁
共振頻率：空氣中 1500 kHz，溶液中 500 kHz
彈簧常數：0.1 N/m
曲率半徑：< 10 nm
7. 顯著減少樣本量限制
現在可以測量載玻片和培養皿上的樣品。
兼容基材：載玻片、蓋玻片、培養皿、半導體晶圓等。
| 高速掃描（探針掃描） | 最大掃描范圍：X：4μm Y：4μm Z：2μm
掃描速度：150毫秒/幀（6.7幀/秒） |
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| 粗載臺掃描（壓電驅動） | 最大掃描范圍：X：45μm Y：45μm（Z斜率小于等于1μm時）
掃描速度：60秒/幀（Z斜率小于等于15μm時） |
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| 樣本量 | 36毫米×36毫米×3毫米（直徑50毫米）或更小 |
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| 樣品臺操作范圍（手動） | 20毫米×20毫米 |
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| 測量環境 | 在溶液中 |
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| 探針檢測方式 | 反光鏡傾斜光學檢測型（光學杠桿型） |
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| 測量模式 | AC模式（形狀圖像、誤差圖像、相位圖像） |
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| 激光 | 790納米（紅外） |
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| 光學顯微鏡 | 產品 |
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| 機架、隔振臺 | 可根據安裝環境改變 |
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