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使用高低溫真空探針臺的實驗附件及常規測試步驟
閱讀：625 發布時間：2024-1-12
高低溫真空探針臺應用領域：
半導體材料光電檢測，功率器件測試，MEMS測試，PCB測試，液晶面板測試，測量表面電阻率測試，精密儀器生產檢測，航空航天實驗室。
高低溫真空探針臺又稱探針測試臺，主要用途是為半導體芯片的電參數測試提供一個測試平臺，探針臺可吸附多種規格芯片，并提供多個可調測試針以及探針座，配合測量儀器可完成集成電路的電壓、電流、電阻以及電容電壓特性曲線等參數檢測。適用于對材料、芯片等進行科研實驗分析，抽查測試等用途。
探針臺結構小巧，功能實用，成本較低的簡易式探針臺，在滿足基本測試功能基礎上，去除了非必要得部件，該探針臺系統包含：光學成像部分，隔振平臺探針座，四維調整載片臺（Chuck），真空吸附系統；譜量光電可以根據客戶應用搭建探針臺，以達到更好得使用效果和性價比。
實驗附件及常規測試步驟：
光學隔振平臺（臺面＞600mm*600mm），一臺計算機（標準VGA接口和USB3.0接口）吉時利2400數字源表（含軟件）等測試時連接探針臺和數字源表，探針接被測物體，通過顯微鏡觀察確定兩根探針是否緊貼被測物表面，待連接導通后打開源表軟件，選好參數即可出該觸點的I-V性能曲線。