冠亞制冷高低溫沖擊測(cè)試系統(tǒng)與傳統(tǒng)的試驗(yàn)箱存在一定的差異，在工作原理以及產(chǎn)品特點(diǎn)都是不一樣的，具體有哪些呢？

　　一、工作原理區(qū)別：

　　高低溫沖擊測(cè)試系統(tǒng)給芯片、模塊、集成電路板、電子元器件等提供準(zhǔn)確且快速的環(huán)境溫度。是對(duì)產(chǎn)品電性能測(cè)試、失效分析、可靠性評(píng)估的儀器設(shè)備。高低溫沖擊測(cè)試系統(tǒng)輸出氣流罩將被測(cè)試品罩住，形成一個(gè)較密閉空間的測(cè)試腔，試驗(yàn)機(jī)輸出的高溫或低溫氣流，使被測(cè)試品表面溫度發(fā)生劇烈變化，從而完成相應(yīng)的高低溫沖擊試驗(yàn)；

　　制冷高低溫沖擊測(cè)試系統(tǒng)可針對(duì)眾多元器件中的某一單個(gè)IC或其它元件，將其隔離出來單獨(dú)進(jìn)行高低溫沖擊，而不影響周邊其它器件，與傳統(tǒng)冷熱沖擊試驗(yàn)箱相比，溫變變化沖擊速率更快。

　　二、產(chǎn)品特點(diǎn)區(qū)別：

　　高低溫沖擊測(cè)試系統(tǒng)采用流體溫度控制技術(shù)，機(jī)械制冷，無需液氮，觸摸屏操作，人機(jī)交互界面，支持測(cè)試數(shù)據(jù)存儲(chǔ)，過熱溫度保護(hù)，加熱模式下，冷凍機(jī)可切換成待機(jī)模式，以減少電力消耗，干燥氣流持續(xù)吹掃測(cè)試表面，防止水氣凝結(jié)。

　　高低溫沖擊測(cè)試系統(tǒng)變溫速率更快，溫控精度：±1℃，實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)待測(cè)元件真實(shí)溫度，可隨時(shí)調(diào)整沖擊氣流溫度，對(duì)測(cè)試機(jī)平臺(tái)上的IC進(jìn)行溫度循環(huán)/沖擊，傳統(tǒng)高低溫箱無法針對(duì)此類測(cè)試，對(duì)整塊集成電路板提供準(zhǔn)確且快速的環(huán)境溫度。

冠亞制冷高低溫沖擊測(cè)試系統(tǒng)廣泛運(yùn)用在半導(dǎo)體制程中對(duì)反應(yīng)腔室控溫、熱沉板控溫及需要傳熱介質(zhì)不可燃流體控溫場(chǎng)所，適用于半導(dǎo)體芯片制造、芯片器件、航空電子設(shè)備中的制冷加熱溫度控制。