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芯片高低溫老化測試箱控制器四種故障分析

時間：2020/8/24閱讀：1381

　　芯片高低溫老化測試箱的所有運行進程都是有控制器輸入完成的，如果控制器出現故障，會造成試驗失敗，嚴重的還會出現設備損壞，所以就芯片高低溫老化測試箱控制器有可能出現的四種故障我們需要有一定的了解。

IC芯片溫度沖擊測試機清潔保養

　　分析溫度控制儀表系統故障時，要注意兩點：該系統儀表多采用電動儀表測量、指示、控制；該系統儀表的測量往往滯后較大。

　　溫度控制儀表系統指示出現快速振蕩現象，多為控制參數PID調整不當造成。溫度儀表系統的指示值突然變到或小，一般為儀表系統故障。因為溫度儀表系統測量滯后較大，不會發生突然變化。此時的故障原因多是熱電偶、熱電阻、補償導線斷線或變送器放大器失靈造成。

　　溫度控制系統本身的故障分析步驟：檢查調節閥輸入信號是否變化，輸入信號不變化，調節閥動作，調節閥膜頭膜片漏了；檢查調節閥定位器輸入信號是否變化，輸入信號不變化，輸出信號變化，定位器有故障；檢查定位器輸入信號有變化，再查調節器輸出有無變化，如果調節器輸入不變化，輸出變化，此時是調節器本身的故障。

　　溫度控制儀表系統指示出現大幅緩慢的波動，很可能是由于工藝操作變化引起的，如當時工藝操作沒有變化，則很可能是儀表控制系統本身的故障。

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