微流體控溫裝置是芯片行業過程中比較重要的一個環節，用戶使用無錫冠亞的微流體控溫裝置，需要對微流體控溫裝置了解清楚，才能更好的進行芯片測試。
微流體控溫裝置在生產制造過程中會引入各種故障，通常會引起功能的失效。這些故障通常可以基于芯片設計時插入的Scan Chain，用ATPG（對于memory用mbist方法，對于Flash按照vendor的測試方法設計bist）產生測試Pattern進行篩選微流體控溫裝置，從而剔除有功能故障的芯片。
除了功能故障之外，*工藝的芯片還會有時序故障。Delay test的目的是剔除有Timing related defect 的芯片（即時序不滿足要求的芯片）。基于Scan-at-speed的策略使用Launch from capture 和Lanuch from shift的方法來實現at-speed測試。在設計層面需要在Scan模式下利用on-chip PLL提供at-speed模式需要的高速工作時鐘。
微流體控溫裝置除了基于功能和時序的測試，還需要進行基于電流、電壓的測試來篩選掉一些“頑固”的芯片。通過IDDQ測試，剔除靜態電流不符合規范的芯片，通過Very Low Voltage test可以更容易發現時序不滿足的芯片，通過Stress test（高壓高溫）加速芯片的壽命更容易剔除gate oxide 失效。
無錫冠亞微流體控溫裝置是芯片測試行業中常用的測試設備，用戶長時間使用微流體控溫裝置之后，想必對微流體控溫裝置有了更深入的了解。(本文來源網絡，如有侵權請聯系刪除，謝謝)
