PAL-HIKARi 水果成熟度檢測儀是由日本愛拓(ATAGO)公司研發(fā)的一款用于無損測量水果成熟度的設(shè)備。
產(chǎn)品特點(diǎn)
無損檢測:無需采摘果實(shí)、破壞果皮、切取果肉或榨汁取樣,即可測量水果的成熟度。
光照射測量原理:采用光照射到水果所吸收的光量,轉(zhuǎn)換成水果的成熟度顯示(0~100%)。
NFC傳輸功能:測量記錄(可達(dá)100條)可通過NFC功能傳輸至手機(jī)或電腦,方便讀取數(shù)據(jù)助力分析。
貼合水果表面設(shè)計(jì):可與水果表面直接接觸,不受水果形狀影響,減少因外界光線透入或測量方位等因素干擾而造成的測量誤差。
自動溫度補(bǔ)償:具備自動溫度補(bǔ)償功能,確保在不同溫度下的測量準(zhǔn)確性。