三豐Mitutoyo影像儀HYPER QV WLI-介紹

HYPER QV WLI配備白光干涉儀的復合型高精度3D測量系統。

可根據WLI光學系統獲取的3D數據進行表面形狀分析/三維粗糙度分析。還可根據3D數據進行高度的尺寸測量和截面形狀測量。

三豐Mitutoyo影像儀HYPER QV WLI-產品陣容

快！更快！！

世界正以難以估判的發展速度刷新著我們的認知。

而制造業在迅雷之勢的發展進程中，日益精進的測量設備更是不可缺。

三豐公司推出了

非接觸式測量的高&端升級版——

Quick Vision PRO系列

憑借驚人的高通量測量出類&拔萃。

不斷進化的CNC影像測量機

與新開發的"StrobeSnap"影像測量功能配合，同時實現高通量和高精度測量。

與傳統方法相比，大多數測量工件的測量時間可縮短約35~45% *。

Quick Vision Pro可通過選配升級追加STREAM功能，采用與主體驅動與頻閃照明同步實現無停頓測量。

在STREAM模式下，600多個要素測量僅需36 秒*。

對此作出貢獻的跟蹤自動對焦（TAF）功能，可利用激光跟蹤工件的高度并沿Z軸自動調整，再有StrobeSnap功能+Stream模式的加持，測量效率可進一步提升。

擁有全新影像自動對焦功能，支持在各個條件下進行高精度、高速度的高度測量。

無論鏡面 or 粗糙面，對焦的速度也能提高約30%。

*：以上數值均為使用本公司演示工件的前提下，與舊規格相比較的結果。

Quick Vision Pro系列提供了豐富的產品線，具有廣泛的測量范圍和精度，勝任醫療、汽車、電子及半導體行業等多個行業的質量控制。

此外、以影像測量系統為主，使用非接觸式傳感器、觸發式測頭和白光干涉儀 (WLI) 來進一步擴展測量應用。主體提供不同級別的精度：1.5μm、0.8μm 和 0.25μm。

限于篇幅，

Quick Vision PRO就為您簡單介紹到這里，更多硬核提升之處，

一起來感受PRO級的影像測量帶來的全新體驗！