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原子吸收光譜法中背景干擾的校正方法
閱讀：1392 發布時間：2015-6-23
在原子吸收光譜儀分子中背景干擾常常是樣品池中多原子狀態物質對光源輻射的吸收或產生散射引起的。石墨爐原子化法的背景吸收遠遠大于火焰法。校正背景干擾常用的方法是使用氘燈扣除背景。
1 用鄰近非共振線校正背景
用分析線測量原子吸收與背景吸收的總吸光度，因非共振線不產生原子吸收，用它來測量背景吸收的吸光度，兩次測量值相減即得到校正背景之后的原子吸收吸光度。
2 連續光源校正背景
先用銳線光源測定分析線的原子吸收和背景吸收的總吸光度，再用氘燈或碘鎢燈、氙燈在同一波長測定背景吸收，計算兩次測定吸光度之差，即可使背景吸收得到校正，由于商品原子吸收光譜儀多采用氘燈作為連續光源扣除背景，故此法也被稱為氘燈扣除背景法。
3塞曼效應校正背景
塞曼效應校正背景是基于光的偏振特性，分為兩大類：光源調制法和吸收線調制法。以后者應用廣泛。調制吸收線的方式，有恒定磁場調制方式和可變磁場調制方式。
4 自吸效應校正背景
自吸效應校正背景法是基于高電流脈沖供電時空心陰極燈發射線的自吸效應。當以低電流脈沖供電時，空心陰極燈發射銳線光譜，測定的是原子吸收和背景吸收的總吸光度。接著以高電流脈沖供電，空心陰極燈發射線變寬，當空心陰極燈內積累的原子濃度足夠高時，發射線產生自吸，在的情況下出現譜線自蝕，這是測定的是背景吸收的吸光度。上述2中脈沖供電條件下測得的吸光度之差，便是校正了背景吸收的凈原子吸收的吸光度。