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SURTRONIC DUO粗糙度測量儀泰勒，測量原理通過采用耐磨的金剛石測針部件，以及精密的機動驅(qū)動裝置，確保進(jìn)行正確的水平距離。當(dāng)測針劃過波峰和波谷時，高感應(yīng)...

SURTRONIC S116粗糙度測量儀，輕輕的按下測量按鈕，在幾分鐘內(nèi)就能得到一個完整的可追溯的測量結(jié)果，包括可在屏幕上顯示的詳細(xì)輪廓曲線圖或者自動打印出測量...

賽多利斯MA37，MA37是新一代的水分測定儀，但延續(xù)了MA35的成功。 MA37提供快速、精確的結(jié)果，而且易于操作。快速測量測量狀態(tài)全程顯示友好的用戶操作界面...

賽多利斯 LMA100P，LMA100P，賽多利斯水分測定儀無錫駿展儀器模塊化的水份測定設(shè)備用于樣品量極大的生產(chǎn)檢驗。一個控制單元可以帶有四個加熱模塊，這樣幾個...

DUALSCOPE MP0鍍層測厚儀，DUALSCOPE MPO菲希爾涂層測厚儀無錫駿展儀器為德國菲希爾1生產(chǎn)涂層測厚儀，MPO涂層測厚儀集合了磁性測厚儀（P-...

MINITEST720 EPK測厚儀，MiniTest 700系列采用三種不同的型號，每種都可以作為的黑色金屬或有色金屬模型和雙用途型號。

賽多利斯 水分測定儀LMA200PM，l 平均測定時間只需40到120秒l 采用微波干燥法，快速、有效l 能測量0.1%到100%的水份含量l 內(nèi)置0.1mg的...

賽多利斯MA100代理，MA100水份測定儀是目前紅外水分儀中可提供最高測量精度的。賽多利斯水分測定儀MA100有分析天平的精度，可以在瞬間得出精確的結(jié)果和重復(fù)...

水分測定儀賽多利斯MA160-1CN，MA160采用熱重量方法來測定液體、膏體以及固體物質(zhì)的水分含量高速測量快速精準(zhǔn)的方法開發(fā)測量狀態(tài)全程顯示可靠的性能測試友好...

賽多利斯MA35M-1CN，MA35M-1CN是一款堅固，用于日常檢測的全自動紅外水分分析儀 。可替代干燥烘箱法以節(jié)省時間，僅10-20分鐘內(nèi)就能得出測量結(jié)果。...

Sartorius賽多利斯MA35M水分測定儀，水分測定儀 MA35 紅外干燥是賽多利斯的一款基礎(chǔ)水分測定儀。它是為日常過程控制中操作而設(shè)計的。水份分析非常簡單...

賽多利斯MA37水分測定儀，可廣泛應(yīng)用于需要快速測定水分的行業(yè)，如醫(yī)藥、塑膠、化工、食品（魚糜、脫水蔬菜、肉類和水產(chǎn)加工干、月餅等）、糧食、飼料、種子、菜籽、茶...

FISCHERSCOPE X-RAY XDAL PCB，XDLM-PCB 200型：首先PCB板將在儀器集成的激光點的協(xié)助下準(zhǔn)確放置于樣品臺上。然后將樣品臺如抽...

FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 237，F(xiàn)ISCHERSCOPE X-RAY XDAL 237典型的應(yīng)用領(lǐng)域有：?分析小于的超薄鍍層?測量電子工...

FISCHERSCOPE X-RAY XDLMPCB200/210，菲希爾無損測厚儀可用于檢測金鎳厚度，元素分析，涂層鍍層檢測，材料分析等。菲希爾X-RAY系列...

FISCHERSCOPE X-RAY XDLM PCB 220，F(xiàn)ISCHERSCOPE X-RAY XDLM-PCB 220 是專為測量印制電路板上鍍層厚度及...

FISCHERSCOPE X-RAY XDLM231/232/237,無論是高精度鍍層厚度測量或是精確材料成分分析，F(xiàn)ISCHER眾多系列的X射線熒光光譜儀可以...

FISCHERSCOPE X-RAY XDL240，?FISCHER 的臺式涂鍍層測厚儀使用 X 射線熒光法或多探頭的接觸式測量技術(shù)，能提供的性能和靈活性。由于...

鍍層測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL230，鍍層厚度測量大型電路板與柔性電路板上的鍍層測量電路板上較薄的導(dǎo)電層和/或隔離層復(fù)雜幾何形狀產(chǎn)品上的...

Fischerscope X-ray XDL 220，XDLM測量系統(tǒng)經(jīng)常用來測量接插件和觸點的各種底材上的Au/Ni，Au/PdNi/Ni，Ag/Ni或Sn/...