菲希爾鍍銀層測厚儀|X射線

菲希爾X射線測厚儀所有的儀器操作，以及測量數據的計算和測量數據報表的清晰顯示，都可以通過功能強大而界面友好的WinFTM軟件在電腦上完成。

FISCHERSCOPE XULM 240 DIN ISO 3497 標準和 ASTM B 568標準。作為保護的儀器，其型式許可符合德國＂Deutsche R?ntgenver-ordnung-R?V＂法規的規定。

菲希爾X射線測厚儀特性：

• X 射線熒光儀器可配備多種硬件組合，可完成各種測量任務

• 由于測量距離可以調節（大可達 80 mm），適用于測試已布元器件的電路板或腔體結構的部件

• 通過可編程 XY 工作臺與 Z 軸（可選）實現自動化的批量測試

• 使用具有高能量分辨率的硅漂移探測器，非常適用于測量超薄鍍層（XDAL 設備）

Fischerscope X-RAY菲希爾X射線測厚儀應用：

鍍層厚度測量

• 大型電路板與柔性電路板上的鍍層測量

• 電路板上較薄的導電層和/或隔離層

• 復雜幾何形狀產品上的鍍層

• 鉻鍍層，如經過裝飾性鍍鉻處理的塑料制品

• 氮化鉻 (CrN)、氮化鈦 (TiN) 或氮碳化鈦 (TiCN) 等硬質涂層厚度測量

材料分析

• 電鍍槽液分析

• 電子和半導體行業中的功能性鍍層分析