xdlm 237 -菲希爾x射線熒光測(cè)厚儀信息：

x射線：德國(guó)菲希爾FISCHERSCOPE-X-RAY XDLM x射線熒光鍍層測(cè)厚和資料剖析儀是普遍適用的能量色散X射線光譜儀。 它們構(gòu)成了成熟的FISCHERSCOPE X-RAY XDLM-C4模型系列開(kāi)發(fā)的下一步。 像它們的前輩一樣，它們特別合適于無(wú)損厚度丈量和薄涂層剖析以及批量消費(fèi)的零件和印制板上的自動(dòng)丈量。有三個(gè)型號(hào)：XDLM 231具有平面支撐臺(tái)，XDLM 232具有手動(dòng)操作的X / Y臺(tái)。 XDLM 237裝備了一個(gè)電動(dòng)X / Y平臺(tái)，當(dāng)翻開(kāi)防護(hù)罩時(shí)，該平臺(tái)會(huì)自動(dòng)移到裝載位置。

應(yīng)用實(shí)例：

XDLM丈量系統(tǒng)經(jīng)常用來(lái)丈量接插件和觸點(diǎn)的各種底材上的Au/Ni, Au/PdNi/Ni, Ag/Ni或Sn/Ni鍍層的厚度。通常功用區(qū)都是很小的構(gòu)造如先進(jìn)或突起，丈量這些區(qū)域必需運(yùn)用很小的準(zhǔn)直器或合適樣品外形的準(zhǔn)直器。例如丈量橢圓形樣品時(shí)，就要運(yùn)用開(kāi)槽的準(zhǔn)直器以取得*大的信號(hào)強(qiáng)度。