操作說(shuō)明：

去除被測(cè)量物及表面的油和塵土。
使用Mikrotest G、F、Galvanotest型（自動(dòng)式）
先反時(shí)針旋轉(zhuǎn)度盤（圖1中6）到底，將麥考特與被測(cè)表面平行靠緊。此時(shí)，按按鈕8（圖1中8）此時(shí)，讀數(shù)即為厚度值。
在度盤旋轉(zhuǎn)過(guò)程中，不要碰按鈕8
蕞終厚度值應(yīng)是技術(shù)數(shù)據(jù)表中所列的公差范圍的綜合考慮，并通過(guò)多點(diǎn)測(cè)量得到平均值。
如：200um ? 5％

平面測(cè)量
測(cè)量面的位置對(duì)于測(cè)量結(jié)果無(wú)影響，注意技術(shù)數(shù)據(jù)表中所列的蕞小測(cè)量范圍和基體的厚度。

彎面測(cè)量
在測(cè)量柱體或圓形邊緣時(shí)，利用儀器上的V型部分，將儀器如示意圖6放置，測(cè)量凹畫時(shí)與測(cè)量平面相同，但要注意蕞小曲率的限制。
粗糙表面測(cè)量
在粗糙表面測(cè)量時(shí)，讀數(shù)將增大（特別是在顆粒尖上）在特別粗糙（如峰值超過(guò)50um）的鋼基體上，并且涂層厚度超過(guò)100um時(shí)，實(shí)際讀數(shù)高于涂層真實(shí)厚度達(dá)20％之多。在這種情況下，平均值的讀取至少應(yīng)測(cè)5個(gè)以上。