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當前位置：深圳市科時達電子科技有限公司>> 布魯克Bruker 三維光學輪廓儀ContourGT-X
ContourGT-X 三維光學輪廓儀提供高性能非接觸表面測量，適用于實驗室研究和生產過程控制。該測量系統融合了十代白光干涉（WLI）創新和設計，可在業界的視場范圍內提供的垂直分辨率。該系統主要包括全自動化系統與生產界面，一個大型電動 XYZ 平臺、掃描頭的傾斜/俯仰以及一個集成氣浮式防震臺。ContourGT-X 專為滿足的研發、質量保證和工藝質量控制需求而設計，提供了具有計量能力的三維光學精度和測試穩定性解決方案。
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