菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XULM240在精密測量領域,菲希爾 FISCHERSCOPE X-RAY XULM 和 XULMXYm X 射線光譜儀憑借性能,成為細小零部件鍍層厚度無損測量與成分分析的理想之選。
菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XULM240該系列產品配備可電動調整的多樣化準直器及基礎濾片,確保每次測量都能在條件下開展。先進的比例接收器支持高計數率,為高精度測量筑牢根基。借助 Fischer 基本參數法,無論是復雜的鍍層系統,還是固體、液體樣品,無需標準片輔助,即可實現精準分析與測量,其可測元素范圍覆蓋氯(17)至鈾(92)。此外,XULM 型 X 射線光譜儀具備出色的長期穩定性,大幅降低儀器校準頻率,有效節省時間與成本。
菲希爾 X-RAY XULM 系列測厚儀在多個領域發揮關鍵作用。在電子制造中,可精準測量微小零部件、接插件和線材的鍍層厚度,為產品質量把控提供可靠數據;在印制線路板檢測環節,支持手動測量,保障線路板品質。在珠寶手表行業,不僅能準確測量鍍層厚度,還可進行成分分析,助力企業打造高品質產品,適用于質量控制、進料檢驗和生產流程監控等多個場景。
