儀器信號：DualScope MP0
訂貨號：509-485
可測量的涂鍍層系統（測量方法），磁性鋼鐵基材上非磁性鍍層和非導電鍍層的厚度，和非磁性金屬基材上非導電涂層的厚度。
測量范圍：可實現 0 - 2000um (80mils) NF/Fe 以及 0 - 2000um (80mils) ISO/NF 的測量，全面覆蓋多數工業涂層厚度檢測需求。
測量精度：0 - 50um 時，測量誤差為 1um；50 - 1000um，精度達 ±2% ；1000 - 2000um，精度為 ±3%。
重復精度：0 - 100um 時，重復精度達 ±0.5um；大于 100um 時，重復精度為 ±0.5%。
最小測量曲率直徑：在精度范圍內，鐵基為 φ35mm，非鐵基為 φ50mm；在允許誤差＜10% 條件下，鐵基可達 φ10mm，非鐵基可達 φ2mm。
最小測量面積直徑：正常為 φ4mm，在允許誤差＜10% 條件下，可至 φ2mm。
最小基體厚度：鐵基為 0.2mm（誤差小于 10% 時），非鐵基為 0.09mm（誤差小于 10% 時）。
重量：含電池僅重 132 克，輕巧便攜，方便操作人員手持進行各類位置的測量。
外形尺寸：為 64mm×30mm×85mm，體積小巧，可輕松放入口袋或工具包，便于攜帶至不同工作現場。
電源：采用兩節 5 號電池供電，電池更換便捷，確保儀器在各種場景下都能持續穩定工作
