FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD是一款應用廣泛的能量色散型 X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀，專為超薄鍍層測量與痕量分析而生，憑借高性能成為行業優選設備。
核心優勢
自動化測量：配備高精度、可編程運行的 X/Y 軸工作臺與馬達驅動的 Z 軸升降臺，可實現全自動樣品測量。當具有防護功能的測量門向上開啟時，樣品臺自動移出至樣品放置位，極大提升操作效率。
精準定位：通過激光點快速對準測量位置，內置帶圖像放大及十字線功能的視頻系統，不僅簡化樣品放置流程，還能對測量點進行精確微調，確保測量精準無誤。
操作與控制
所有儀器操作，包括測量數據計算、測量數據報表展示，均可通過功能強大且界面友好的 WinFTM® 軟件在電腦端輕松完成，操作便捷高效。
性能參數
元素測定：最多可同時測定從鋁（13）到鈾（92）的 24 種元素，滿足多樣化分析需求。
結構設計：采用測量門向上開啟的臺式設計，側面開槽，方便樣品操作。
智能組件：配備馬達驅動、可編程運行的 X/Y 軸工作臺和 Z 軸升降臺，以及馬達驅動、可切換的準直器和基本濾片。
核心部件：儀器搭載帶鈹窗口的微聚焦鎢管，具備三擋可調節高壓，同時配備 6 個可切換的基本濾片，為精準測量提供有力保障。
