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一、用途
上海彼愛姆掃描電子顯微鏡U1510
二、技術規格
上海彼愛姆掃描電子顯微鏡U1510
| 項目 | 內容 |
| 二次電子分辨率 | 3.0nm（高真空，30kV） |
| 背散射電子分辨率 | 4.0nm(低真空：6Pa，30kV） |
| 倍率 | 5～300,000X |
| 加速電圧 | 0.3～30 kV |
| 樣品臺 | X 0～80 mm |
| Y 0～40 mm； | |
| Z 5～50 mm； | |
| T -20°～ 90°； | |
| R 360° | |
| 樣品臺控制 | 手動（可選：2軸馬達） |
| ＊大載入樣品尺寸 | 直徑：153 mm |
| ＊大觀察范圍 | 直徑：126 mm（XYR并用） |
| ＊大樣品高度 | 60 mm（WD=15 mm） |
| 低真空范圍 | 6-270Pa(從菜單設定) |
| 燈絲 | 預對中鎢燈絲 |
| 物鏡光闌 | 4孔可變光闌 |
| 槍偏壓 | 固定比例偏壓、手動偏壓和自動4偏壓 |
| 檢測器 | 二次電子檢測器，高靈敏度半導體背散射電子檢測器 |
| EDX分析位置 | WD=15,TOA=35° |
| 真空系統 | 分子泵1臺，機械泵1臺 |
| 安全措施 | 停電，漏電，自動保護 |
