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一文與您分享掃描電子電鏡的詳細操作方法
閱讀：978 發布時間：2023-3-13
掃描電子電鏡（SEM）是利用電子束來照射樣品表面，然后通過接收電子束的信號，產生高分辨率的圖像的一種現代化的分析工具。本文將介紹掃描電子電鏡的操作方法：
1.準備工作
（1）確保設備能正常運行；
（2）準備樣品并安裝好；
（3）檢查探針長度是否恰當；
（4）檢查吸附泵是否處于運行狀態。
2.調整SEM
在進行掃描電子顯微鏡之前，您需要確保設備已被校準和調整。這包括：
（1）調整顯微鏡，以獲得聚集的電子束；
（2）確定樣品表面的中心位置；
（3）校準電子束的縮放比例和對焦位置；
（4）確定合適的操作條件，如加速電壓、溫度和壓力。
3.開始掃描
完成了調整后，您可以啟動SEM掃描。這包括：
（1）將加速電壓設置為適當的值以控制電子束的引導；
（2）將樣品聚焦在所選方向上，并調整探針的偏移量；
（3）調整電子束的形狀和大小以獲得最佳的分辨率；
（4）清潔測試區以確保清晰的掃描圖像。
4.獲取掃描圖像
當SEM充分調整后，您可以開始獲取掃描圖像。此過程包括：
（1）確定光學顯微鏡和掃描電鏡之間的交互；
（2）將光標移至圖像上，以捕獲其表面項目的細節；
（3）調整掃描速度和樣品位置，以獲得更全面的圖像。
5.瀏覽和保存樣品
然后您需要將樣品從顯微鏡中拆出并安排保存。這可以通過在以下過程中完成：
（1）檢查樣品的表面質量和精細度；
（2）檢查樣品的軟件屬性，并進行分析和處理；
（3）將樣品歸檔在電子顯微鏡圖像庫中。
結論
掃描電子顯微鏡是一種現代化的分析工具，在許多領域中起著關鍵作用。這篇文章介紹了操作的過程和感興趣的方面，以幫助您更好地理解其原理和工作方法。