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　　CPS納米粒度儀是基于差示沉淀法對顆粒粒度進行測量和分析。樣品被注入到高速旋轉的液體中，然后在離心力的作用下，樣品被快速沉降，由檢測器記錄不同顆粒的沉降時間。由于液體為具有多層密度差的梯度液，可將同時沉降的所有粒子做更精細的排列分層沉降。再利于激光光源及檢測器，來檢測小至納米級的粒子，這樣達到納米至微米級粒徑分布分析的檢測。并獲得高精確度及高解析度的分析結果。

　　CPS納米粒度儀使用高速離心圓盤將顆粒在液體介質里分離開。顆粒在的沉降穩定過程是由于液體介質中顆粒的密度梯度形成的。有別于傳統方法，通過差示離心沉降原理為顆粒的精細區分提供新的解決方案。同激光散射和顆粒計數法等方法比較，該方法有非常高的分辨率。該產品具有多樣化的功能，可以監測動力學過程；提供標準的體積和數量分布的結果。具有較高的分辨率，優良的靈敏度和重復性。可以提供顆粒系統粒徑、形狀和濃度等方面的總體信息。