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產品簡介
雙折射測量儀WPA-200系列是Photonic lattic公司以其世界的光子晶體制造技術開發的產品，雙折射測量技術，高速而又精確的測量能力使其成為光學測量產品。
該產品在測量過程中可以對視野范圍內樣品一次測量，全面掌握應力分布。可測數千nm高相位差分布的萬用機器，用來測量光學薄膜或透明樹脂。量化測量結果，二維圖表可以更直觀的讀取數據。
雙折射測量儀WPA-200特點
操作簡單，測量速度可以快到3秒，
采用ＣＣＤ Camera，視野范圍內可一次測量，測量范圍廣。
測量數據是二維分布圖像，可以更直觀的讀取數據。
具有多種分析功能和測量結果的比較。
維護簡單，不含旋轉光學濾片的機構。
雙折射測量儀WPA-200主要應用
光學零件（鏡片、薄膜、導光板）
透明成型品（車載透明零件、食用品容器）
透明樹脂材料（PET PVA COP ACRYL）
透明基板（玻璃、石英、藍寶石、單結晶鉆石）
有機材料（球晶、FishEve）
參數指標
型號 | WPA-200 | WPA-200-L |
測量范圍 | 0~30OOnm | |
重復性 | <1.0nm | |
像素數 | 384×288（≒11萬）pixels | |
測量波長 | 523nm,543nm,575nm | |
尺寸 | 270×340×560 mm | 430×490×910 mm |
觀測到的zui大面積 | 24×32 mm ～ 100×133mm | 33×44 mm ～ 240×320mm |
重量 | 13kg | 23kg |
數據接口 | GigE（攝像機信號） RS232C（電機控制） | |
電壓電流 | AC100-240V（50/60Hz） | |
軟件 | WPA-View | |
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