雷達(dá)物位計(jì)的干擾因素主要包括：
高頻頭沾染粘附物、障礙物對反射的干擾、短管內(nèi)的阻抗躍變、天線連接處的阻抗躍變、罐內(nèi)油氣或蒸汽結(jié)露影響反射等。
常見的儀表信號干擾源電磁兼容性已成為工業(yè)過程測量和控制儀表的一項(xiàng)重要性能指標(biāo)。
由于測量和控制儀表總是和各類產(chǎn)生電磁干擾的設(shè)備工作在一起，因此不可避免地受電磁環(huán)境的影響。常見的干擾源主要分外部干擾和內(nèi)部干擾兩大類。
3.1外部干擾
1）天體和天電的干擾天體干擾是由太陽或其他恒星輻射電磁波所產(chǎn)生的干擾。天電干擾是由雷電、大氣的電離作用、火山爆發(fā)及地震等自然現(xiàn)象所產(chǎn)生的電磁波和空間電位變化所引起的干擾。
2）機(jī)械的干擾機(jī)械的干擾是指由于機(jī)械的振動或沖擊，使控制儀表中的電氣元件發(fā)生振動、變形，使連接線發(fā)生位移，使指針發(fā)生抖動、儀表接頭松動等。對于機(jī)械類的干擾主要是采取減振措施來解決，例如采用減振彈簧、減振軟墊、隔板等。
3）熱的干擾火電廠熱力設(shè)備在工作時產(chǎn)生的熱量所引起的溫度波動和環(huán)境溫度的變化，都會引起控制儀表的電路元器件參數(shù)發(fā)生變化，從而影響控制儀表的正常工作。
4）光的干擾在控制儀表中廣泛使用著各種半導(dǎo)體元件，這些半導(dǎo)體元件在光的作用下會改變其導(dǎo)電性能，從而影響控制儀表的正常工作。
5）濕度干擾濕度過高會引起絕緣體的絕緣電阻下降，漏電流增加；電介質(zhì)的介電系數(shù)增加，電容量增加；吸潮后骨架膨脹使線圈阻值增加，電感器變化；應(yīng)變片黏貼后，膠質(zhì)變軟，精度下降等。
6）化學(xué)的干擾酸、堿、鹽等化學(xué)物品以及其他腐蝕性氣體，除了具有化學(xué)腐蝕性作用將會損壞儀器設(shè)備和元器件外，又能與金屬導(dǎo)體產(chǎn)生化學(xué)電動勢，從而影響控制儀表的正常工作。
3.2內(nèi)部干擾干擾有時也來自儀表內(nèi)部，如電源變壓器、導(dǎo)線、印刷電路、電子元件之間的電感、電容或元器件內(nèi)部的噪聲干擾。
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