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四探針導電電阻率測試儀廣泛用于：覆蓋膜;導電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、防輻射導電窗膜 導電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標簽、合金類箔膜;熔煉、燒結、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料，其他半導體材料、薄膜材料方阻測試硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻 半導體材料/晶圓、太陽能電池、電子元器件，導電薄膜（ITO導電膜玻璃等），金屬膜，導電漆膜，蒸發鋁膜，PCB銅箔膜，EMI涂層等物質的薄層電阻與電阻率 導電性油漆，導電性糊狀物，導電性塑料，導電性橡膠，導電性薄膜，金屬薄膜，抗靜電材料， EMI防護材料，導電性纖維，導電性陶瓷等本儀器本儀器采用四探針雙電測量方法，適用于生產企業、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示，無需人工計算，并帶有溫度補償功能，電阻率單位自動選擇，儀器自動測量并根據測試結果自動轉換量程，無需人工多次和重復設置。采用高精度AD芯片控制，恒流輸出，結構合理、質量輕便，運輸安全、使用方便；選配：配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數據，自動生成報表；本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度、電導率，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據產品及測試項目要求選購.雙電測數字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量。該儀器設計符合單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M標準。利用電流探針、電壓探針的變換，進行兩次電測量，對數據進行雙電測分析，自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響，它與單電測直線或方形四探針相比，大大提高精確度，特別是適用于斜置式四探針對于微區的測試。
電 阻：1×10-5～2×105Ω
電導率：5×10-6～1×108ms/cm
分辨率： 小1μΩ
測量誤差±5%
2、測量電壓量程： 2mV 20mV 200mV 2V
測量精度±（0.1%讀數）
分辨率： 0.1uV 1uV 10uV 100uV
3、⑴電流輸出：直流電流 0～1000mA 連續可調，由交流電源供電。
⑵量程：1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，1000mA,
⑶誤差：±0.2%讀數±2字
4. 主機外形尺寸：330mm*340mm*120mm
5、顯示方式：液晶顯示6、電源：220±10% 50HZ/60HZ
7、標配：測試平臺一套、主機一套、電源線數據線一套。
測量范圍、分辨率（括號內為拓展量程，可定制）
四探針導電電阻率測試儀滿足GB/T 1551、GB/T1552-1995，ASTM F84美國A.S.T.M 標準。2）四探針法粉末測試平臺依據GBT 30835-2014《鋰離子電池用炭復合磷酸鐵鋰正極材料》中關于粉末電導率的測定方法中用于仲裁方法的四探針法要求制作.
功能概述：采用高精度集成電路模塊；全自動化焊接電路，4.3吋液晶顯示器，薄膜按鍵操作，整體大方，人體工學的結構設計，自帶溫度，USB，232通訊接口，高精恒直流恒流源系統，提供四探針法和四端法兩種測量模式并存，中英兩種語言版本選擇；選購：PC軟件可以獲得測試過程數據及變化圖表曲線，包括壓力與電阻，電阻率，電導率的變化關系，及報表生成，存儲，打印等；PC軟件能實現電腦操控整個測量過程，選購：四探針法粉末測試平臺提供全自動平臺或手動操作平臺兩種；選購配置四探針探頭可以用于對涂層，薄膜，等半導體材料方阻的測量.本機采用雙電組合測量方法.
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