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詳細摘要：日本yutaka長螺絲折彎檢測分揀裝置YS-4BR-S系列
本產品是制造汽車、電器、飛機等各種精密產品*的螺絲。
是一種100%的檢驗分揀裝置，保護螺栓等緊固部件和重要安全部件的安全。

詳細摘要：日本yutaka長螺絲折彎檢測分揀裝置YS-4BR-S系列
目標工作：M3～M6（M8～M12）
L頸下尺寸：30～100mm（100～250mm）
頂級相機：頭型
側攝像頭：頸下L尺寸、有無螺絲、螺絲形狀、機身彎曲

詳細摘要：日本yutaka螺紋缺陷檢驗及分揀裝置YS-QXS系列
目標工作：
M3 到 M6，或 M4 到 M8
頸下 L 尺寸：8 至 50 毫米
* 頭部直徑≤ 頸部以下的 L 尺寸允許懸掛。

詳細摘要：日本yutaka螺紋缺陷檢驗及分揀裝置YS-QXS系列
檢查項目：
頂級彩色相機：
頭部直徑，頭部形狀/劃痕，鍍或不鍍
激光傳感器：頸下L尺寸
側邊彩色攝像頭：螺旋流、螺旋
外徑、螺距、螺尖形狀、
存在或不存在線程

詳細摘要：日本yutaka缺陷螺釘頭檢驗及分揀裝置YS-QX系列
QX系列檢測項目：
1. 1. 頭部直徑、法蘭形狀
2. 頸下L尺寸
3. 3. 軸徑
4. 頭高
5. 螺桿外徑
6. 頭部形狀和劃痕
7. 帶或不帶螺絲
8. 螺紋螺距，壓碎
9. 尖dua

詳細摘要：日本yutaka螺絲劃痕檢驗及分揀裝置YS-QX系列
目標工作：M3～M6
L 頸下尺寸：8～50mm
頂級彩色CCD相機：螺釘頭直徑、螺釘頭形狀、頭部劃痕、鍍或不鍍
側單色CCD相機：螺釘外徑、螺距、螺釘尖duan形狀、劃痕
傳感器：頸下L尺寸，帶或

詳細摘要：日本yutaka螺母檢驗分揀裝置YS-2GR系列
一種特殊測試，可通過一個攝像頭進行 360 度檢查，適用于需要 4 到 6 個攝像頭的檢查。

詳細摘要：日本yutaka螺母裂紋/劃痕檢驗分揀裝置YS-2GR系列
在行業內設計和安裝。使用傳統相機成像，成像范圍僅是被攝體的正面，而不是兩側或對側。 在周圍檢查時，需要安裝多臺攝像機的空間，而且空間變大，因此制造很困難，但有了這個產品，就可以進行精確的檢查

詳細摘要：日本yutaka微球外徑檢測裝置YSW-2R
我們在一家精密零件檢測設備制造商，如滾輪外徑分選機、激光分選機、CCD光學分選機等經過10年的研發，介紹了超精密滾輪式球外徑分選機的成功技術開發和商業化。直徑分選機YSW-2R，可實現連續無人自動操作和100%檢查，

詳細摘要：日本jisc螺絲緊固測試儀 NST系列
一次測量即可得到轉角-扭矩軸力圖、扭矩-軸力圖、伸長-扭矩軸力圖，從結果中可以得到扭矩系數、摩擦系數等多種計算結果。

詳細摘要：日本olympus手持式 X 射線熒光分析儀 VANTA-Robust
VANTA系列是一款便攜式熒光X射線分析儀，具有出色的穩健性、耐用性和高分析性能，并可直觀操作。可在現場快速無損地實現與分析實驗室質量同等水平的檢測，并能高精度地分析元素成分。

詳細摘要：日本olympus手持式X射線熒光分析儀Vanta Element系列
Vanta Element 系列包括有助于簡化金屬回收和質量控制流程的連接功能。

詳細摘要：日本adcmt紅外測光儀 4000/400 5X 系列
對于紅外測量儀，一個 1 通道紅外測量儀單元“40051/40053/40057"和一個 2 通道紅外測量儀單元“40052/40054"安裝在主機“4000"中，允許在一個小外殼中安裝兩個插槽. 因為可以組合安裝，所以一臺單元可以配置1到4

詳細摘要：日本adcmt光波計 8471
8471 使用 He-Ne 激光器作為參考波長，并且是邁克爾遜干涉儀型光波長計，因此可以進行高精度測量。因此，可以以高分辨率和高精度測量DWDM的LD發射中心頻率。

詳細摘要：日本adcmt臺式光功率計 8250A
8250A光功率計是一款臺式光功率計，適用于光盤、光頭、驅動裝置等LD的研發和生產線。
它具有 0.001 dB 分辨率、5½ 位顯示，并配備了 GPIB 和 USB 接口作為標準設備，可以輕松構建自動化系統。

詳細摘要：日本adcmt手持式光功率計8230
8230是一款高性能的手持式光功率計，適用于光盤、光頭、驅動設備等LD的研發和生產線。

詳細摘要：日本adcmt手持式光功率計8230E
8230E 是一款低成本的手持式光功率計，非常適用于生產線，例如用于光盤的 LD、光學拾音器和驅動設備。
我們準備了四種類型的光學傳感器，兩種類型，通用和高功率，兩種類型，薄型和圓柱形，取決于應用。高功率光學傳

詳細摘要：日本sasaki koki半導體晶體非接觸式測厚儀OZUMA22
OZUMA 更新了用于半導體晶片（Si 硅晶片、GaAs、砷化鎵 Ga）、砷（As）、玻璃、金屬等的高精度非接觸式厚度測量裝置（非接觸式厚度測量裝置） . 非接觸式測厚儀OZUMA22用于控制半導體晶片（Si硅晶片、Ga

詳細摘要：日本ehc實驗原型的液晶面板臺式摩擦裝置MRG-100
一種用于實驗原型的臺式摩擦裝置?？梢酝ㄟ^簡單的操作在玻璃基板、薄膜基板等上進行穩定的摩擦。

詳細摘要：日本greentechno高壓測量儀
可測量靜電應用產品的高壓（DC-120kV至+120kV，電流容量1mA以下）。
對“砂紙制造電極"、“靜電植絨制造電極"等施加高電壓，可輕松進行現場測量。