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液晶面板表面缺陷及檢測應用分析

薄膜顯晶體管液晶顯示器（TFT-LCD）具有高分辨率和功耗低等優點，因此被廣泛應用于顯示器行業。

但是顯示屏的生產過程流程多、環境等因素，難以避免會出現缺陷顯示屏，導致產品不良率較高。TFT-LCD顯示屏的制作包括鍍膜、刻蝕、顯影、面板組合、灌晶封口和安裝驅動芯片等工藝，復雜的工序導致缺陷的出現，常見的缺陷包括點缺陷，線缺陷和Mura缺陷。

“Mura"一詞來源于日語，譯為斑點、臟污，也被稱為“云斑"，是顯示缺陷中最難檢測的缺陷之一。傳統的Mura檢測方法是通過人工視覺檢查的方式實現的，主要采用裸眼辨別的方法。此方法效率低下，并且容易造成視覺疲勞，從而導致結果正確率降低。

基于機器視覺的液晶面板檢測，可實現對液晶面板的各個生產工藝產生的缺陷進行檢測，包括Array（陣列）工藝，CF（彩膜）工藝，CELL（成盒）工藝，Module（模組）工藝，可實現對crack（裂紋），broken（破損），chip（崩邊），scratch（劃痕），burr（毛刺），drop（水滴）等缺陷的有效檢測區分。

日本sena鹵素表面檢查燈185le

日本sena lamp高照度鹵素強光燈185LE屏幕面板檢查燈

高照度照明設備（表面檢查燈）185LE是目視檢查晶圓、鏡頭、玻璃基板的表面等為目的的光源。

適合于TFT面板、CF（彩色濾光片），觸摸屏制造等行業。