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Polytec ——光學測量技術專家簡介
Polytec GmbH 成立于1967年，總部位于德國卡爾斯魯厄（后遷至瓦爾德布隆），是一家專注于光學測量技術研發與生產的優秀企業。公司以激光測振技術為核心，同時覆蓋表面計量、近紅外光譜分析、機器視覺及過程分析等領域，致力于為工業、科研及制造提供高精度、非接觸式測量解決方案。其產品以高分辨率、模塊化設計及環境適應性著稱，廣泛應用于汽車、航空航天、半導體、生物醫療、農業和能源等行業。
核心業務領域
1.激光測振技術
提供非接觸式激光測振儀，用于振動、位移、速度等參數的精確測量，支持從微觀器件到大型結構的全場景分析。
技術優勢：亞皮米級分辨率、高達25 MHz的帶寬、三維振動模態分析能力。
2.光學表面計量
開發白光干涉儀（如TopMap系列），用于納米級表面形貌測量，包括平面度、臺階高度、粗糙度等參數，適配精密制造和半導體檢測。
3.近紅外光譜分析（NIR）
推出在線近紅外光譜儀（如PSS和PAS系列），實現實時無損檢測，應用于農業、食品、制藥等領域的成分分析（如水分、蛋白質、脂肪含量）。
4.機器視覺與過程分析
集成光學傳感器和智能算法，支持工業自動化場景的實時監控與質量控制。
主要產品線
1.激光測振儀系列
全場掃描式測振儀（如PSV-500）：支持三維模態分析（3D模式），用于汽車零部件、航空發動機等復雜結構的振動特性研究。
顯微式測振儀（如MSA-600）：專為MEMS器件設計，分辨率達亞皮米級，適用于微機電傳感器、壓力薄膜等微觀場景。
便攜式測振儀（如VibroGo）：輕量化設計，適合現場快速檢測，如橋梁、建筑結構的健康監測。
2.近紅外光譜儀系列
PAS 1720/1750：模塊化設計，覆蓋850-1650 nm波段，適用于農業谷物、食品加工等在線成分分析。
PAS 2120：擴展至2100 nm波段，支持更高精度的化學過程監控，如制藥原料的實時質量控制。
3.光學表面計量系統
TopMap Pro.Surf：大范圍表面形貌測量（44×33 mm2），集成粗糙度檢測功能，用于精密制造和半導體晶圓檢測。
TopMap Micro.View：臺式設備，分辨率達納米級，適配實驗室和小型生產環境。
4.工業自動化解決方案
RoboVib®測試中心：結合工業機器人實現全自動振動測試，提升汽車、航空航天領域的大規模檢測效率。
技術優勢與行業應用
高精度與可靠性：是能提供三維振動模態分析的供應商。
環境適應性：支持惡劣工業環境（如高溫、強電磁干擾），部分設備通過ATEX防爆認證。
智能化集成：近紅外光譜儀可無縫對接DCS/LIMS系統，實現數據實時傳輸與工藝優化。
典型應用場景：
汽車行業：發動機臺架測試、車身NVH性能優化。
半導體制造：晶圓表面缺陷檢測、MEMS器件動態特性分析。
精準農業：谷物成分實時監測、土壤養分分析。