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x射線成像在快速無損檢測領(lǐng)域里有廣闊的發(fā)展前景
X射線數(shù)字射線成像(DigitalRadiograph,DR)和工業(yè)計(jì)算機(jī)斷層掃描（IndustrialComputedTomography,ICT）是工業(yè)無損檢測領(lǐng)域中的兩個(gè)重要技術(shù)分支。DR檢測技術(shù)，是20世紀(jì)90年代末出現(xiàn)的一種實(shí)時(shí)的X射線數(shù)字成像技術(shù)。相對于現(xiàn)今仍然普遍應(yīng)用的射線膠片照相，DR檢測的優(yōu)點(diǎn)就是實(shí)時(shí)性強(qiáng)，可以在線實(shí)時(shí)地對生產(chǎn)工件結(jié)構(gòu)介質(zhì)不連續(xù)性、結(jié)構(gòu)形態(tài)以及介質(zhì)物理密度等質(zhì)量缺陷進(jìn)行無損檢測，因此在快速無損檢測領(lǐng)域里有廣闊的發(fā)展前景。
ICT技術(shù)是一種融合了射線光電子學(xué)、信息科學(xué)、微電子學(xué)、精密機(jī)械和計(jì)算機(jī)科學(xué)等領(lǐng)域知識(shí)的高新技術(shù)。它以X射線掃描、探測器采集的數(shù)字投影序列為基礎(chǔ)，重建掃描區(qū)域內(nèi)被檢試件橫截面的射線衰減系數(shù)分布映射圖像。據(jù)此圖像，可對被檢試件的結(jié)構(gòu)、密度、特征尺寸、成分變化等物理、化學(xué)性質(zhì)進(jìn)行判讀和計(jì)量。
DR系統(tǒng)一般由射線源、待測物、探測器、圖像工作站等幾部分構(gòu)成。對于DR檢測技術(shù)而言，其核心部件是探測器。目前在工程實(shí)際中應(yīng)用的探測器主要分為兩種：圖像增強(qiáng)器和非晶硅平板探測器。圖像增強(qiáng)器首先通過射線轉(zhuǎn)化屏將X射線光子轉(zhuǎn)換為可見光，然后通過CCD（ChargeCoupledDevice）相機(jī)將可見光轉(zhuǎn)化為視頻信號，可在監(jiān)視器上實(shí)時(shí)顯示，也可通過A/D采集卡轉(zhuǎn)化為數(shù)字信號輸入到計(jì)算機(jī)顯示和處理。非晶硅平板探測器采用大規(guī)模集成技術(shù)，集成了一個(gè)大面積非晶硅傳感器陣列和碘化銫閃爍體，可以直接將X光子轉(zhuǎn)化為電子，并最終通過數(shù)模轉(zhuǎn)換器（ADC）轉(zhuǎn)變成為數(shù)字信號。平板探測器具有動(dòng)態(tài)范圍大和空間分辨率高的特性，可實(shí)現(xiàn)高速的DR檢測，已成為工業(yè)DR檢測技術(shù)發(fā)展的主流。