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　　Zeta電位納米粒度儀是用于測試納米粒徑及粒徑分布的全新軟件，采用動態光散射技術及電泳光散射技術，可以實時、準確地檢測膠體溶液中納米顆粒的粒徑及粒徑分布，以及Zeta電位等參數。

　　Zeta電位納米粒度儀的原理主要基于電泳遷移和動態光散射技術。以下是該原理的詳細解釋：

　　1、電泳遷移：Zeta電位納米粒度儀通過施加一個電場，使帶電的納米顆粒在電場中發生定向遷移。這個遷移的速度與顆粒的電荷量、電場強度以及電介質的介電常數有關。具體來說，負電荷的顆粒會向正電極方向遷移，而正電荷的顆粒會向負電極方向遷移。

　　2、動態光散射：在電場作用下，運動的納米顆粒當受到激光照射時，會產生散射光。由于多普勒效應，這個散射光的頻率會發生變化。散射光與參考光疊加后，頻率的變化會更加明顯。通過測量這個頻率變化，可以推算出顆粒的運動速度。

　　3、Zeta電位的計算：根據顆粒在電場中的遷移速度和所施加的電場強度，可以計算出顆粒的電動力學電荷。進一步地，通過考慮電介質的影響，可以推算出顆粒表面的電位，即Zeta電位。

　　綜上所述，Zeta電位納米粒度儀通過結合電泳遷移和動態光散射技術，可以準確地測量納米顆粒的Zeta電位和粒度分布。這對于理解納米顆粒的分散穩定性、相互作用以及在各種應用中的行為具有重要意義。