激光二極管有一大部分的應(yīng)用于光通訊與電信工業(yè)的范疇內(nèi)，如光收發(fā)器(Transceiver) 等產(chǎn)品在組裝前若能了解每顆激光二極管的特性或與直接測試光纖的耦合后的特性，能減低產(chǎn)品的失敗率。Chroma 58620測試系統(tǒng)中含有自動(dòng)對(duì)焦系統(tǒng)(Auto alignment)，可搭配不同種類的光纖與Focuser進(jìn)行激光光大功率點(diǎn)耦合并測試，當(dāng)激光光達(dá)一定程度的耦合效率時(shí)，系統(tǒng)搭配光譜分析儀(OSA) 進(jìn)行分析了解激光二極管共振膜態(tài)，主次模比(Side Mode Suppression Ration) 以及波長分析(Peek wavelength) 等；此外，利用光學(xué)輔助定位的原理(AOI) 使得Focuser快速達(dá)到激光發(fā)光區(qū)(Emission Region) 并進(jìn)行搜尋大發(fā)射功率點(diǎn)可加速測試，大幅減低光纖耦合調(diào)校時(shí)間與測試人力。
Chroma 58620藉由多年在半導(dǎo)體IC測試的經(jīng)驗(yàn)與技術(shù)，發(fā)展共享載具與更換治具等概念并應(yīng)用于激光二極管產(chǎn)業(yè)。傳統(tǒng)在激光二極管前段測試過程中，需經(jīng)過多次的老化測試(Burn-In) 與特性檢測制程(Characterization)，在更換載具的過程中常會(huì)損壞待測物減低良率，共享載具的好處可讓研發(fā)或操作員只需要在D一次將激光二極管放置于載具中，即可在不接觸待測物之下完成所有必要的檢測，此設(shè)計(jì)亦可搭配Chroma 58601老化測試機(jī)。然而，激光二極管的形式(Form Factor) 于各家設(shè)計(jì)皆有所不同，而58620更換治具(Change Kit) 的概念可符合世界上大多激光二極管的封裝形式進(jìn)行修改后即馬上可進(jìn)行量測，目前可使用的形式為Chip on carrier， Chip on sub-mount，Laser-bar等。
主要特色：
全自動(dòng)化檢測邊射型激光半導(dǎo)體芯片
高精密及高容量載具設(shè)計(jì)
自動(dòng)光纖耦合測試對(duì)位設(shè)計(jì)(Auto-alignment)
AOI輔助定位，加速測試時(shí)間
共用載具設(shè)計(jì)可搭配燒機(jī)測試
高精密TEC溫度控制，穩(wěn)定度達(dá)0.01℃
搭配Chroma PXI-Base SMU/Power meter
軟體分析激光特性: Ith，Rs，Vf，Slope Efficiency，λp等
