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Agilent 安捷倫 6530 配套氮氣發生器
2010年Flairmo*實驗室空壓機問世，基于在氣體制造及純化技術上建立起來的強大技術團隊和專業知識背景，Flairmo 不斷開展對空氣分離技術的開發及創造性研究工作，現已成功發展成為現今世界上重要的氣體發生器制造商之一。公司總部設在丹麥奧爾堡。10多年來Flairmo一直從事壓縮機和氮氣發生器的制造，產品滿足各類實驗室、科學儀器對高純氫氣、高純氮氣、零級空氣、大流量氮氣等氣體的需求，涉及醫療，實驗室，食品，工業等各個行業。
型號：N2G 40 – A200.6
氮氣純度99.5%，流量40L/min，內置空壓機，壁掛式/柜式箱體，整套系統占地面積不超過0.4平方米，質譜配套氮氣發生器。適配Agilent安捷倫，Thermo Fisher賽默飛，AB SCIEX，沃特世Waters ，布魯克 Bruker，島津Shimadzu，PerkinElmer珀金埃爾默等品牌液質聯用儀LC-MS。
提供3年10000小時質保服務。
所用技術 PSA
流速 40 SLPM
出口壓力 0 到 7 barg / 0 到 100 psig
空壓機 內置
操作環境溫度 5°C 到40°C
工作環境濕度 相對濕度≤ 70% , 不冷凝
高海拔 2000 米
尺寸 （長x寬x高 ）： 615 x 630 x 860 mm
重量：110 kg
Agilent 安捷倫 6530 配套氮氣發生器
丹麥Flairmo*氮氣發生器專門為LCMS設計，采用先進的PSA技術，將空氣壓縮機里的氣體導入碳分子篩，氧氣、二氧化碳、水份及其他雜質在通過碳分子篩時被除去，只允許氮氣通過碳分子篩并進入蓄氣池，在蓄氣池里進行壓力和流速的調節后就可以與用氣設備相連。
Flairmo N2G40-A200.6系列氮氣發生器高配機型內置氧濃度分析儀，可以實現純度在線顯示，報警等功能，并且可以用手機APP或者電腦程序實施遠程監測，機器的內部控制結合氧濃度分析儀實現純度的真正可選可控，只會產出我們設定好需要的氮氣。
Flairmo N2G40-A200.6系列氮氣發生器配備了LCD 觸摸顯示屏可以方便查看機器狀態和記錄，如開機次數，運行時間，純度設置，純度報警，維修服務提醒等等。
與采用中空纖維膜技術對比
1、碳分子篩技術可實現自我凈化，不僅有效去除雜質和碳氫化合物，而且得到的氮氣純度更高，這就是為什么所有廠家氣相用氮氣發生器（因為純度要求達到99.999%）全部采用碳分子篩技術而不是膜分離技術。
2、膜分離技術，根據不同氣體在通過膜時的滲透屬性不同，將空氣中的氮氣分離出來，但通過膜的壓縮空氣即使之前經過凈化也會存在一定的雜質和碳氫化合物，這些雜質會附著在膜上而不會*排除，在空氣濕度大的地方，膜的分離效率會不斷降低，純度和流速會逐漸降低.
3、碳分子篩技術更適宜于潮濕的空氣環境和高溫天氣；
利用 Agilent 6530B 四極桿飛行時間液質聯用系統將您的分析提升至更高的水平。 6530B 可提供高分辨率精確質量 MS/MS 的性能，使您對數據充滿信心。
- 2 ppm 的質量準確度讓您對分析結果充滿信心。
- 強大的安捷倫噴射流離子源能夠幫助您檢測低含量組分。
- 較寬的譜圖內動態范圍有利于在存在嚴重背景干擾的情況下同時測量微量組分。
- Agilent Infinity II UHPLC、2D-LC、SFC 以及 GC-APCI 色譜接口的進展使您能夠獲得極快的采集速度。
- 強大的 MassHunter 軟件 提供了的軟件功能，可通過高分離度 MS 和 MS/MS 分析、表征、鑒定和定量分析復雜混合物中的化合物。
6530 Q-TOF LC/MS
利用 Agilent 6530 Q-TOF 質譜儀將分析效率提升至全新水平。全質譜以及后續的 MS/MS 或全離子采集使這款儀器適用于制藥行業以及生命科學與政府機構的應用。精確質量質譜讓您的分析比單位分辨率儀器更可靠。
6530 Q-TOF LC/MS 能夠提供精確質量質譜分析的強大功能，使您對數據充滿信心。儀器中的所有軟件工作流程均與 6530 *兼容，為您提供*大的數據和研究訪問。6530 久經驗證的穩定性能幫助您的實驗室與時俱進。
四極桿飛行時間液質聯用系統
安捷倫的化學分析業務主要提供氣相色譜，氣相色譜-單四級桿質譜、串聯四級桿質譜、四級桿飛行時間質譜等設備，2009年收購瓦里安后，安捷倫整合了光譜產品線與化學分析業務及其真空設備，并在無機領域中提供ICP, ICP-MS等產品，ICP-MS產品暢銷。
Agilent 6530 Q-TOF采集肽段數據，采用整合有BioConfirm 的 MassHunter 定性軟件，通過軟件中的蛋白酶解產物比較功能 (Compare Protein Digest Files)，實現了對單克隆抗體藥物中二硫鍵連接的確證。此方法無需對樣品進行額外的標記，僅通過對還原和非還原組樣品的一級質譜進行比對，即可實現對樣品二硫鍵連接的確認。
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