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芯片檢測影像測量儀可以測量十五種幾何元素（點,直線,平面,圓,圓弧,橢圓,矩形,鍵槽,圓環,圓柱,圓錐,球,開曲線,閉曲線,焦面,角度和距離），并且可以測量高度,也可以預置基本幾何元素。根據實際測量需求可以選擇接觸式測量---探針測量，也可以選擇非接觸式測量---影像和激光位移器測量。多種測量方法: 智能尋邊,整體采點,多段采點,鼠標采點,鄰近采點,十字線采點,放大采點,對比采點。

每種芯片產量少則幾千件，多則上萬件。所有的芯片需要全檢，并根據不同的尺寸公差，將產品分成優、良、差三個等級。客戶以往的工作方式是采用芯片檢測影像測量儀，一個一個進行人工操作測量分級，這對客戶來說無疑是巨大的工作量。面對與日俱增的工作量，對檢測及分揀自動化提出了要求。

自動軟件自動影像加探針和激光位移器測量應用軟件，可以對二維測量的坐標進行可視化分析處理和檢測，也可以使用探針進行三維幾何元素測量,也可以用激光位移器測量平面度和高度。應用于各種精密制造業，如手機組件,模具,電子,通信,機械,五金,塑料,儀表,鐘表,PCB,LCD等行業。可測量的材料包括金屬,塑料,橡膠,玻璃,PCB,陶瓷等;

芯片檢測影像測量儀技術參數：