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日置C測試儀3506-10
對應1MHz測試, 低容量,高精度,高速測試
C、(tan δ), Q測試，低電阻測量 測試源頻率：1kHz，1MHz 測量時間：1.5ms(1MHz) RS-232C，GP-IB
產品簡介
詳細介紹
日置C測試儀3506-10
對應1MHz測試, 低容量,高精度,高速測試
C、(tan δ), Q測試，低電阻測量 測試源頻率：1kHz，1MHz 測量時間：1.5ms(1MHz) RS-232C，GP-IB
概要
模擬測量時間0.6ms(1MHz)的高速測量
提高了抗干擾性，在產線的上也能實現高反復精度
1kHz、1MHz測量下，低電容的貼片時可穩定測量
根據BIN的測定區分容量
基本參數
測量參數：C(電容),D(損耗系數tanδ), Q (1/tan δ)
測量范圍
C:0.001fF～15.0000μF
D: 0.00001 ～ 1.99999
Q:0.0 ～ 19999.9
基本精度
(代表值)C: ±0.14% rdg. D: ±0.0013
測量頻率：1kHz, 1MHz
測量信號電平：500mV, 1V rms
輸出電阻：1Ω (在1kHz 時2.2 μF 以上量程), 20Ω(除上述以外的量程)
顯示：LED(6位顯示,滿量程由點數有效距離來決定)
測量時間
1.5ms：1MHz， 2.0 ms：1kHz
功能
BIN分類測量, 觸發同步輸出, 測量條件記憶, 測量值比較功能, 平均值功能, Low-C篩選功能, 振動功能, 電流檢測監視功能, 輸出電壓值監視功能, 控制用輸入輸出 (EXT. I/O), RS-232C接口, GP-IB接口
電源
AC 100/120/220/240V ±10%(可選擇), 50/60Hz, 最大40VA
體積及重量：260W × 100H × 298Dmm, 4.8kg
附件：電源線× 1, 電源備用保險絲× 1，使用說明書× 1
三年質保
日置C測試儀3506-10