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利用垂直炬管減少清潔需求、縮短停機時間、降低更換頻率，輕松應對復雜樣品
閱讀：898 發布時間：2020-5-6前言使用： ICP-OES 分析樣品時，需要考慮的一個主要問題是樣品中總溶解態固體 (TDS) 的含量。許多常見樣品中含有高濃度的 TDS，例如環境實驗室常分析的土壤、污泥和鹽溶液等樣品，以及礦物、采礦和土壤實驗室日常分析的各種酸消解液和熔融物等。樣品中的 TDS 含量通常決定了使用哪種 ICP-OES 儀器進行分析。一般來說，分析 TDS 含量不超過 3% 的樣品時，通常會使用配備水平炬管的 ICP-OES 儀器。分析 TDS 含量更高的樣品時，則通常會使用帶垂直炬管的徑向觀測儀器。分析高 TDS 樣品時，還需注意要使用穩定的射頻 (RF) 發生器系統以及可應對復雜樣品的炬管。
垂直炬管的優勢：配備垂直炬管的徑向觀測儀器可以處理 TDS 含量高的樣品。然而，徑向觀測等離子體（從炬管側邊觀測等離子體）的檢測限不如軸向觀測等離子體（從炬管端口觀測等離子體，沿著等離子體的中心通道）。如需更低的檢測限，可在配備水平炬管的儀器上配備一個能應對高濃度 TDS 的特殊設計的耐高鹽炬管。但是，這種系統的精密度和長期穩定性不如配備垂直炬管的系統，而且還必須更加頻繁地清潔或更換炬管。 Agilent 5900 和 5800 ICP-OES 儀器現有的每種配置都采用了強適應性的垂直炬管，如表 1 所示。垂直炬管可幫助分析人員輕松應對包括高基質和揮發性有機溶劑在內的具挑戰性的樣品。垂直炬管設計確保您能以性能實現對復雜樣品的穩定測量，清潔需求更少，停機時間更短。由于垂直炬管的使用壽命更長，因此更換次數也更少。
5900 同步垂直雙向觀測 (SVDV) ICP-OES 采用*的智能光譜組合 (DSC) 技術，能夠以低的單個樣品氬氣消耗量快速測量樣品（圖 1）。SVDV 配置可在軸向、徑向、垂直雙向觀測和同步垂直雙向觀測模式下運行。
5800 垂直雙向觀測 (VDV) ICP-OES 可實現高樣品通量。此外，如果需要更高的樣品通量，還可在現場將其全面升級為 SVDV 配置。5800 RV ICP-OES 是需要快速、高性能徑向 ICP-OES 的實驗室的理想選擇。
結論: Agilent 5900 和 安捷倫5800 ICP-OES儀器使用的強適應性垂直炬管提供了分析復雜樣品的配置，同時還實現了軸向觀測等安捷倫離子體的預期精密度。 SSRF 系統能夠提供可靠、穩定且免維護的等離子體以及出色的長期穩定性，即使棘手的樣品也是如此。使用易安裝炬管并利用 MFC 控制所有等離子體氣體，能夠省去炬管校準步驟（在分析挑戰性樣品時，這一步驟通常*），確保獲得一致且可重現的結果。